[发明专利]具有反射式相位光栅的标尺有效

专利信息
申请号: 200710079749.X 申请日: 2007-03-07
公开(公告)号: CN101086453A 公开(公告)日: 2007-12-12
发明(设计)人: 格奥尔格·弗拉特舍尔 申请(专利权)人: 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司
主分类号: G01D5/38 分类号: G01D5/38;G02B5/18
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 章社杲;吴贵明
地址: 德国特劳*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种具有反射式相位光栅的标尺,该相位光栅具有作为反射层堆叠(3)的交替的高折射层(6,7)和低折射层(5a,5b),该层堆叠设置在基底(2)上。高折射层(6,7)由硅构成,低折射层(5a,5b)由二氧化硅构成。
搜索关键词: 具有 反射 相位 光栅 标尺
【主权项】:
1.一种用于干涉式位置测量系统的标尺,所述标尺具有反射式相位光栅,所述相位光栅具有在反射层堆叠(3)中交替的高折射层(6,7)和低折射层(5a,5b),其中所述反射层堆叠设置于基底(2)上,其特征在于,所述高折射层(6,7)由硅构成,所述低折射层(5a,5b)由二氧化硅构成。
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