[发明专利]核辐射密度计射线强度调节方法及装置无效

专利信息
申请号: 200710077814.5 申请日: 2007-06-26
公开(公告)号: CN101334476A 公开(公告)日: 2008-12-31
发明(设计)人: 潘晓安;田运雄;沈宇龙;周虎哉;蔡兴琳;张政军;廖庭龙 申请(专利权)人: 中国铝业股份有限公司
主分类号: G01T1/16 分类号: G01T1/16;G01T1/02
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 代理人: 刘楠
地址: 10081*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种核辐射密度计射线强度调节方法及装置,其特征在于:在核辐射密度计的射源和测量管之间插入钢板,通过插入钢板的厚度和数量来调节射源的射线强度。本发明在射源和测量管之间安装钢板,通过控制钢板插入的块数,调节密度计接收探棒和转换器接收到γ射线电磁强度,使之更符合接收探棒和转换器的要求,使密度检测更精确。本发明能够有效的把密度计接收探棒接收到的射线强度控制在要求的范围内,只采用一个射源,可选择各种型号规格的接收探棒和转换器,并且使检测准确可靠。具有结构简单,能调节射线强度,可节约成本,提高检测准确性的,减小密度计对工作人员身体机能的伤害等优点。
搜索关键词: 核辐射 密度计 射线 强度 调节 方法 装置
【主权项】:
1、一种核辐射密度计射线强度调节方法,其特征在于:在核辐射密度计的射源和测量管之间插入钢板,通过插入钢板的厚度和数量来调节射源的射线强度。
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