[发明专利]核辐射密度计射线强度调节方法及装置无效

专利信息
申请号: 200710077814.5 申请日: 2007-06-26
公开(公告)号: CN101334476A 公开(公告)日: 2008-12-31
发明(设计)人: 潘晓安;田运雄;沈宇龙;周虎哉;蔡兴琳;张政军;廖庭龙 申请(专利权)人: 中国铝业股份有限公司
主分类号: G01T1/16 分类号: G01T1/16;G01T1/02
代理公司: 贵阳中新专利商标事务所 代理人: 刘楠
地址: 10081*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 核辐射 密度计 射线 强度 调节 方法 装置
【权利要求书】:

1、一种核辐射密度计射线强度调节方法,其特征在于:在核辐射密度计的射源和测量管之间插入钢板,通过插入钢板的厚度和数量来调节射源的射线强度。

2、根据权利要求1所述的核辐射密度计射线强度调节方法,其特征在于:钢板的厚度为10~20毫米。

3、根据权利要求2所述的核辐射密度计射线强度调节方法,其特征在于:钢板的厚度为13~17毫米。

4、根据权利要求1所述的核辐射密度计射线强度调节方法,其特征在于:钢板的数量为1~8块。

5、根据权利要求4所述的核辐射密度计射线强度调节方法,其特征在于:钢板的数量为4~6块。

6、一种核辐射密度计射线强度调节装置,它包括核辐射密度计的射源(1)和接收探棒(2),射源(1)和接收探棒(2)之间放置有测量管(3),其特征在于:在射源(1)和测量管(3)之间设有钢板(4)。

7、根据权利要求6所述的核辐射密度计射线强度调节装置,其特征在于:在测量管(3)上设有支架(5),支架(5)内设有插槽(6),钢板(4)插入插槽(6)内。

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