[发明专利]Sb掺杂生长p型Zn1-xMgxO晶体薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 200710070938.0 申请日: 2007-08-21
公开(公告)号: CN101187061A 公开(公告)日: 2008-05-28
发明(设计)人: 叶志镇;潘新花;林均铭;朱丽萍;赵炳辉 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: C30B29/22 分类号: C30B29/22;C30B23/02
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 韩介梅
地址: 310027浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开的Sb掺杂生长p型Zn1-xMgxO晶体薄膜的方法,采用的是脉冲激光沉积法。靶材是由纯ZnO、MgO和Sb2O3粉末混合烧结的陶瓷靶,其中Mg的摩尔百分含量x为0<x<20%,Sb的摩尔百分含量y为0<y<5%。将衬底清洗后放入脉冲激光沉积装置生长室中,生长室抽真空,在压强为0.1~1Pa的纯氧气氛下生长,生长温度为300~500℃。本发明方法简单,p型掺杂浓度可以通过调节靶材中Sb的摩尔百分含量控制;由于掺杂元素来自靶材,因此可以实现高浓度掺杂;本方法制得的p型Zn1-xMgxO晶体薄膜具有良好的电学性能,载流子浓度为1015~1017cm-3
搜索关键词: sb 掺杂 生长 zn sub mg 晶体 薄膜 方法
【主权项】:
1.Sb掺杂生长p型Zn1-xMgxO晶体薄膜的方法,其特征是包括以下步骤:1)称量纯度≥99.99%的ZnO、MgO和Sb2O3粉末,其中Mg的摩尔百分含量x为0<x<20%,Sb的摩尔百分含量y为0<y<5%,将上述粉末球磨混合均匀、压制成型,然后在1000~1300℃温度下烧结,得掺Sb的Zn1-xMgxO陶瓷靶;2)将步骤1)制得的陶瓷靶和清洗过的衬底放入脉冲激光沉积装置生长室中,靶材与衬底之间的距离保持为4~6cm,生长室真空度至少抽至10-3Pa,衬底加热升温到300~500℃,生长室通入纯氧气,控制压强为0.1~1Pa,开启激光器,让激光束聚焦到靶面烧蚀靶材,形成余辉,沉积在衬底上,制得Sb掺杂的p型Zn1-xMgxO晶体薄膜,在氧气氛下冷却至室温。
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