[发明专利]Sb掺杂生长p型Zn1-xMgxO晶体薄膜的方法有效
申请号: | 200710070938.0 | 申请日: | 2007-08-21 |
公开(公告)号: | CN101187061A | 公开(公告)日: | 2008-05-28 |
发明(设计)人: | 叶志镇;潘新花;林均铭;朱丽萍;赵炳辉 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | C30B29/22 | 分类号: | C30B29/22;C30B23/02 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人: | 韩介梅 |
地址: | 310027浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开的Sb掺杂生长p型Zn1-xMgxO晶体薄膜的方法,采用的是脉冲激光沉积法。靶材是由纯ZnO、MgO和Sb2O3粉末混合烧结的陶瓷靶,其中Mg的摩尔百分含量x为0<x<20%,Sb的摩尔百分含量y为0<y<5%。将衬底清洗后放入脉冲激光沉积装置生长室中,生长室抽真空,在压强为0.1~1Pa的纯氧气氛下生长,生长温度为300~500℃。本发明方法简单,p型掺杂浓度可以通过调节靶材中Sb的摩尔百分含量控制;由于掺杂元素来自靶材,因此可以实现高浓度掺杂;本方法制得的p型Zn1-xMgxO晶体薄膜具有良好的电学性能,载流子浓度为1015~1017cm-3。 | ||
搜索关键词: | sb 掺杂 生长 zn sub mg 晶体 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
1.Sb掺杂生长p型Zn1-xMgxO晶体薄膜的方法,其特征是包括以下步骤:1)称量纯度≥99.99%的ZnO、MgO和Sb2O3粉末,其中Mg的摩尔百分含量x为0<x<20%,Sb的摩尔百分含量y为0<y<5%,将上述粉末球磨混合均匀、压制成型,然后在1000~1300℃温度下烧结,得掺Sb的Zn1-xMgxO陶瓷靶;2)将步骤1)制得的陶瓷靶和清洗过的衬底放入脉冲激光沉积装置生长室中,靶材与衬底之间的距离保持为4~6cm,生长室真空度至少抽至10-3Pa,衬底加热升温到300~500℃,生长室通入纯氧气,控制压强为0.1~1Pa,开启激光器,让激光束聚焦到靶面烧蚀靶材,形成余辉,沉积在衬底上,制得Sb掺杂的p型Zn1-xMgxO晶体薄膜,在氧气氛下冷却至室温。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学,未经浙江大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710070938.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:汽车制动动能再生装置
- 下一篇:主人识别器