[发明专利]一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置有效
| 申请号： | 200710063609.3 | 申请日： | 2007-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN101241154A | 公开（公告）日： | 2008-08-13 |
| 发明（设计）人： | 吴季;张成;刘浩 | 申请（专利权）人： | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 高存秀 |
| 地址： | 100084北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置，包括一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置，包括转动装置；还包括至少两个天线单元分别通过连接装置与转动装置相连，使得天线单元能够共轴地在同一平面内独立旋转；所述至少两个天线单元的相位中心到转动轴的距离有两种，分别为第一距离和第二距离，所述第一距离大于第二距离。本发明的优点在于：降低观测系统的复杂度，减少成本；提高系统的精确度和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 干涉 成像 微波 辐射计 扫描 装置 | ||
【主权项】：
1. 一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置，包括转动装置；至少两个天线单元分别通过连接装置与转动装置相连，使得天线单元能够共轴地在同一平面内独立旋转。
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