[发明专利]一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置有效
申请号: | 200710063609.3 | 申请日: | 2007-02-06 |
公开(公告)号: | CN101241154A | 公开(公告)日: | 2008-08-13 |
发明(设计)人: | 吴季;张成;刘浩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
主分类号: | G01R29/08 | 分类号: | G01R29/08 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 高存秀 |
地址: | 100084北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 干涉 成像 微波 辐射计 扫描 装置 | ||
1. 一种用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置,包括转动装置;至少两个天线单元分别通过连接装置与转动装置相连,使得天线单元能够共轴地在同一平面内独立旋转。
2. 根据权利要求1所述用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置,其中,至少两个天线单元的相位中心到转动轴的距离不相等。
3. 根据权利要求1所述用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置,其中,所述至少两个天线单元的相位中心到转动轴的距离有两种,分别为第一距离和第二距离,所述第一距离大于第二距离。
4. 根据权利要求3所述用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置,其中,所述第二距离Lm和第一距离Ls满足如下公式:
其中,θH为所述天线单元的波束宽度,θr为系统所要求的角度分辨率,λ为系统接收电磁信号的波长。
5. 根据权利要求1或3或4所述用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置,其中,所述天线单元是步进式旋转或者是往复式步进旋转。
6. 根据权利要求5所述用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置,其中,步距角是时变的。
7. 根据权利要求1或3或4所述用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置,其中,所述天线单元是连续式旋转,当连续旋转扫描时,具有第一距离的天线单元和具有第二距离的天线单元的旋转角速度不相同;或者所述天线单元是往复式连续旋转。
8. 根据权利要求1或3或4所述用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置,其中,所述天线单元是步进式和连续式混合旋转。
9. 根据权利要求3或4所述用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置,其中,包括一个具有第一距离的天线单元和至少两个具有第二距离的天线单元;或包括一个具有第二距离的天线单元和至少两个具有第一距离的天线单元;或者包括至少两个具有第一距离的天线单元和至少两个具有第二距离的天线单元。
10. 根据权利要求3或4所述用于干涉式成像微波辐射计的扫描装置,其中,包括4个具有第一距离的天线单元和4个具有第二距离的天线单元,且具有第一距离的天线单元和具有第二距离的天线单元分别以90°的角度间隔成中心对称分布。
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