[发明专利]一种基于可编程器件的可控集成电路测试系统及方法

摘要

本发明为一种基于可编程器件的可控集成电路测试系统，针对于数字集成电路芯片，其包括：一测试平台，一测试芯片适配器，一时钟发生系统，一电源控制系统，一控制终端，通过对被测试的目标芯片设置频率、电压以及相应的测试命令来测试集成电路芯片的性能和功能。由于采用可编程器件的测试平台，以及测试芯片适配器能够对同一封装结构的集成电路芯片进行测试；本发明还提供了一种基于可编程器件的可控集成电路测试方法，通过上述的系统和方法使集成电路测试系统具有了通用性、完备性和针对性，从而实现降低产品成本，提高测试效率的目的。

主权项

1、一种基于可编程器件的可控集成电路测试系统，其特征在于，其包括：一测试平台，其设置有集成电路测试电路逻辑的可编程器件开发平台；一测试芯片适配器，其通过插接座将所述的可编程器件的所有管脚引出，与目标芯片建立对应连接，从而进行数据的交互传输；一时钟发生系统，产生多路独立的时钟，其与所述的可编程器件测试平台相连，向其提供时钟信号；一电源控制系统，其与测试芯片适配器相连接，提供可控的电源给目标芯片；一控制终端，其发出频率控制指令控制所述的时钟发生系统，发出电平控制指令控制所述的电源控制系统，以及向所述的可编程器件测试平台下载测试逻辑程序，并进行测试控制的数据交互，实现对集成电路各项测试的控制。