[发明专利]一种基于可编程器件的可控集成电路测试系统及方法有效
| 申请号： | 200710062951.1 | 申请日： | 2007-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN101029918A | 公开（公告）日： | 2007-09-05 |
| 发明（设计）人： | 朱一明 | 申请（专利权）人： | 北京芯技佳易微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 100084北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 可编程 器件 可控 集成电路 测试 系统 方法 | ||
【说明书】：
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