[发明专利]有序孔阵列透射式波长计及其测量方法无效
| 申请号: | 200710019651.5 | 申请日: | 2007-01-25 |
| 公开(公告)号: | CN101231194A | 公开(公告)日: | 2008-07-30 |
| 发明(设计)人: | 段国韬;蔡伟平;李越;罗媛媛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号: | G01J9/02 | 分类号: | G01J9/02 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 230031*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: |
本发明公开了一种有序孔阵列透射式波长计及其测量方法。波长计为平行光源(1)的入射角与由透明衬底(2)和其孔阵列周期为200nm~20μm的有序孔阵列(3)构成的半透镜相垂直,半透镜或平面镜位于移动台上,平面镜为位于透明衬底(2)的附有有序孔阵列(3)的一侧的显示屏(5),其与有序孔阵列(3)间的距离为20cm~1m;方法为设定测量的精度,即选择有序孔阵列与显示屏间的距离,根据显示屏上有无衍射斑点或衍射环,确定有序孔阵列的孔阵列周期幅度的增减,测量显示屏上的衍射斑点或衍射环的半径,通过公式 |
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| 搜索关键词: | 有序 阵列 透射 波长 及其 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种有序孔阵列透射式波长计,包括平行光源(1)和其光路上的半透镜和平面镜,以及移动台,其特征在于:(a)所说平行光源(1)的入射角与所说半透镜相垂直;(b)所说半透镜或平面镜位于移动台上;(c)所说半透镜由透明衬底(2)和有序孔阵列(3)构成,所说有序孔阵列(3)的孔阵列周期为200nm~20μm;(d)所说平面镜为显示屏(5),所说显示屏(5)位于所说透明衬底(2)的附有有序孔阵列(3)的一侧,且与所说有序孔阵列(3)间的距离为20cm~1m。
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