[发明专利]X射线探伤机控制方法及检测控制装置有效
申请号: | 200710011901.0 | 申请日: | 2007-06-29 |
公开(公告)号: | CN101074939A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | 吕相钦;夏海涛;夏春凯;肖丹鹏 | 申请(专利权)人: | 丹东华日理学电气有限公司 |
主分类号: | G01N23/18 | 分类号: | G01N23/18;G06F19/00 |
代理公司: | 沈阳杰克知识产权代理有限公司 | 代理人: | 孙国瑞 |
地址: | 118001辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在现有X射线探伤机上配用X射线剂量检测控制装置,增加辐射剂量检测与控制功能,能实时显示辐射的剂量率和累计剂量,方便查看辐射剂量,了解设备运行状态。能将累计剂量转换为胶片的黑度值,可以根据设定的辐射剂量来控制曝光参数,按设定黑度值来控制X射线探伤机完成曝光,从而获得最佳成像效果,降低了工作量,减少胶片材料损失。 | ||
搜索关键词: | 射线 探伤 控制 方法 检测 装置 | ||
【主权项】:
1 一种X射线探伤机控制方法,其特征在于:在用X射线探伤机检测工件时,将工件放在射线窗口与检测控制装置的X射线探测器之间,调整好焦距,启动X射线探伤机,X射线探测器将捕集的X射线转换成电信号输入到X射线探伤机控制器的微处理器,微处理器按预先装入的计算程序计算出X射线吸收剂量率和累计剂量,根据预先设定并存入微处理器的X射线吸收剂量率和累计剂量(或黑度值)与捕集到X射线剂量的关系通过控制器调整曝光参数;X射线吸收剂量率和累计剂量是按下述公式计算:L=f(Q);H=L·t;D=a·lgH+b;其中a与b为常数。L表示X射线吸收剂量率;Q表示转换电路输出电信号的值;H表示累计曝光量;D表示黑度值;t表示曝光时间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于丹东华日理学电气有限公司,未经丹东华日理学电气有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200710011901.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:新型石墨复合铸咀
- 下一篇:不锈钢复合板多种炉具通用炊具