[发明专利]在多波束光扫描系统中测量前向多激光束的激光功率的方法无效

专利信息
申请号: 200680048362.1 申请日: 2006-12-12
公开(公告)号: CN101341382A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: F·M·H·克罗姆普沃茨;A·M·范德李 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G02B26/12;G11B7/13;G11B7/125
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 李静岚;刘红
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 一种用于测量由包括至少两个激光二极管的激光二极管阵列生成的前向多波束的激光功率的方法,该方法包括:生成步骤,包括生成前向多波束;分离步骤,包括把至少部分的前向多波束分离成个体的波束(31,32,300,301,302,303),个体波束的数目等于在激光二极管阵列中的激光二极管的数目,该安排使得每个个体波束包括源自于单个激光二极管的光;以及测量步骤,包括藉助于光检测器(121,122,125,126,127,128)来测量每个个体波束的激光功率。所述分离可以在空间上藉助于成像透镜或者利用准直器透镜的渐晕被执行,或者在时间上被执行。
搜索关键词: 波束 扫描 系统 测量 激光束 激光 功率 方法
【主权项】:
1.一种用于测量由包括至少两个激光二极管的激光二极管阵列生成的前向多波束的激光功率的方法,该方法包括:-生成步骤,包括生成前向多波束,该方法的特征在于,-分离步骤,包括把至少部分的前向多波束分离成个体波束,个体波束的数目等于在激光二极管阵列中的激光二极管的数目,该安排是使得每个个体波束包括源自于单个激光二极管的光;-测量步骤,包括测量每个个体波束的激光功率。
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