[发明专利]利用磁传感器阵列的位置检测有效
| 申请号： | 200680041641.5 | 申请日： | 2006-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN101305264A | 公开（公告）日： | 2008-11-12 |
| 发明（设计）人： | A·M·徳米特里夫;M·J·拉托里亚;L·F·里克斯 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01D5/16 | 分类号： | G01D5/16 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王洪斌;王小衡 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种磁阻传感器系统包括多个芯片载体，以使得所述多个芯片载体之中的每个集成电路与相应的磁阻感测部件相关联。多个磁阻感测部件能够被排列成阵列，其中所述多个磁阻部件之中的每个磁阻部件与所述多个芯片载体之中的相应的集成电路相关联，并且其中，所述多个磁阻感测部件包括彼此被不规则隔开的感测部件，以便优化阵列的性能并且满足特定磁阻感测应用的要求。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 传感器 阵列 位置 检测 | ||
【主权项】：
1.一种磁阻传感器系统，包括：被排列成阵列的多个磁阻感测部件，其中所述多个感测部件之中的每个磁阻感测部件彼此被不规则地隔开，以便优化所述阵列的性能并且满足其特定磁阻感测应用的要求。
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