[发明专利]利用磁传感器阵列的位置检测有效

专利信息
申请号: 200680041641.5 申请日: 2006-09-12
公开(公告)号: CN101305264A 公开(公告)日: 2008-11-12
发明(设计)人: A·M·徳米特里夫;M·J·拉托里亚;L·F·里克斯 申请(专利权)人: 霍尼韦尔国际公司
主分类号: G01D5/16 分类号: G01D5/16
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王洪斌;王小衡
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 利用 传感器 阵列 位置 检测
【权利要求书】:

1.一种磁阻传感器系统,包括:

被排列成阵列的多个磁阻感测部件,其中所述磁阻感测部件被不规则地隔开,以便优化所述阵列的性能并且满足其特定磁阻感测应用的要求,不规则的间距包括第一磁阻感测部件和第二磁阻感测部件之间的第一距离、第二磁阻感测部件和第三磁阻感测部件之间的第二距离以及第三磁阻感测部件和第四感测部件之间的第三距离,其中所述第一、第二和第三距离是不同的。

2.如权利要求1所述的系统,还包括多个芯片载体,其中所述多个芯片载体之中的每个芯片载体与所述多个磁阻感测部件之中的相应的磁阻感测部件相关联。

3.如权利要求1所述的系统,其中所述阵列包括线性阵列。

4.如权利要求1所述的系统,其中所述阵列包括旋转阵列。

5.如权利要求1所述的系统,其中所述阵列被配置在印刷电路板(PCB)上。

6.如权利要求1所述的系统,其中所述多个磁阻感测部件之中处于所关心区域中的磁阻感测部件对之间的间距减少使得具有所述阵列的所述所关心区域中的绝对准确度得以优化。

7.一种磁阻传感器系统,包括:

被排列成阵列的多个磁阻感测部件,所述阵列被配置在印刷电路板(PCB)上;

多个芯片载体,其中所述多个芯片载体之中的每个芯片载体与所述多个磁阻感测部件之中的相应的磁阻感测部件相关联,以使得所述磁阻感测部件被不规则地隔开,以便优化所述阵列的性能并且满足其特定磁阻感测应用的要求,不规则的间距包括第一磁阻感测部件和第二磁阻感测部件之间的第一距离、第二磁阻感测部件和第三磁阻感测部件之间的第二距离以及第三磁阻感测部件和第四感测部件之间的第三距离,其中所述第一、第二和第三距离是不同的;并且

其中所述多个磁阻感测部件之中处于所关心区域中的磁阻感测部件对之间的间距减少使得具有所述阵列的所述所关心区域中的准确度得以提高。

8.如权利要求7所述的系统,其中所述阵列包括线性阵列或旋转阵列。

9.一种磁阻感测方法,包括:

将多个磁阻感测部件排列成阵列;以及

对所述多个磁阻感测部件进行配置,以使得所述磁阻感测部件被不规则地隔开,以便优化所述阵列的性能并且满足其特定磁阻感测应用的要求,不规则的间距包括第一磁阻感测部件和第二磁阻感测部件之间的第一距离、第二磁阻感测部件和第三磁阻感测部件之间的第二距离以及第三磁阻感测部件和第四感测部件之间的第三距离,其中所述第一、第二和第三距离是不同的。

10.如权利要求9所述的方法,进一步包括:

提供多个芯片载体;以及

使所述多个芯片载体之中的每个芯片载体与所述多个感测磁阻部件之中的相应的磁阻感测部件相关联。

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