[发明专利]集成电路测试用探针有效
| 申请号： | 200680037809.5 | 申请日： | 2006-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN101305285A | 公开（公告）日： | 2008-11-12 |
| 发明（设计）人： | 谈寅良 | 申请（专利权）人： | 谈寅良 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/309 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 | 代理人： | 郝传鑫 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 一种电接触器件，包括在其一端带有一个第一邻接体的第一往复导体、在其一端带有一个第二邻接体的第二往复导体，和一个使得第一往复导体与第二往复导体在轴向相反方向相对分开的弹性装置。第一邻接体与第二邻接体可滑动地邻接，从而提供第一往复导体与第二往复导体间的电性连接。在另一实施例中，第一往复导体、第二往复导体和至少一个固定元件设置有多个通孔的弹性绝缘壳体内。弹性绝缘壳体使得第一往复导体和第二往复导体在轴向上相反方向相对分开。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 探针 | ||
【主权项】：
1.一种用于提供电接触的器件，该器件包括：在一端带有第一接触端和在另一端带有第一邻接体的第一往复导体；在一端带有第二接触端和在另一端带有第二邻接体的第二往复导体；和使得所述第一往复导体与所述第二往复导体在轴向相反方向相对分离的弹性装置；其中，所述第一邻接体与所述第二邻接体滑动邻接，从而在所述第一往复导体与所述第二往复导体间提供电导性。
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