[发明专利]用于芯片实验室诊断的集成波导激光器无效
| 申请号： | 200680022602.0 | 申请日： | 2006-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN101203745A | 公开（公告）日： | 2008-06-18 |
| 发明（设计）人： | H·莫恩克;G·休斯勒;U·韦克曼;J·戈特曼 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司;弗劳恩霍弗实用研究促进协会 |
| 主分类号： | G01N21/77 | 分类号： | G01N21/77;G01N21/64;H01S3/063;H01S3/102 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 李亚非;谭祐祥 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于对样品中的目标物质进行检测的检测设备。该设备包括衬底(1)，在所述衬底(1)内或在所述衬底(1)上具有至少一个平面波导激光器(2)，所述波导激光器(2)具有用于上转换或下转换的增益介质(5)。所述波导激光器(2)的顶层(3)形成所述衬底(1)表面的至少一部分并允许在接触所述表面的样品中形成迅衰波。在所述顶层(3)上施加一种结构以在所述顶层(3)上限定探测器区域(4)阵列，所述探测器区域(4)包括用于检测待检测目标物质的探测器材料涂层。本检测设备允许以高度集成设计对目标物质进行并行检测。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 实验室 诊断 集成 波导 激光器 | ||
【主权项】：
1.用于对样品中的目标物质进行检测的检测设备，所述设备包括：衬底(1)，在所述衬底(1)内或在所述衬底(1)上具有至少一个平面波导激光器(2)，所述波导激光器(2)具有用于上转换或下转换的增益介质(5)，其中所述波导激光器(2)的顶层(3)形成所述衬底(1)表面的至少一部分并允许在接触所述表面的样品中形成迅衰波，其中在所述顶层(3)上施加一种结构以在所述顶层(3)上限定探测器区域(4)阵列，所述探测器区域(4)包括用于检测待检测目标物质的探测器材料涂层。
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