[发明专利]用于芯片实验室诊断的集成波导激光器

权利要求书

1.用于对样品中的目标物质进行检测的检测设备，所述设备包括：衬底(1)，在所述衬底(1)内或在所述衬底(1)上具有至少一个平面波导激光器(2)，所述波导激光器(2)具有用于上转换或下转换的增益介质(5)，其中所述波导激光器(2)的顶层(3)形成所述衬底(1)表面的至少一部分并允许在接触所述表面的样品中形成迅衰波，其中在所述顶层(3)上施加一种结构以在所述顶层(3)上限定探测器区域(4)阵列，所述探测器区域(4)包括用于检测待检测目标物质的探测器材料涂层。

2.如权利要求1所述的检测设备，其特征在于：所述增益介质(5)被嵌入在折射率低于增益介质(5)的材料中，其中所述顶层(3)由所述材料形成且在探测器区域(4)中的厚度小于或等于波导激光器(2)的激光波长。

3.如权利要求1或2所述的检测设备，其特征在于：所述增益介质(5)为稀土掺杂材料。

4.如权利要求1或2所述的检测设备，其特征在于：所述波导激光器(2)包括两个端镜(6)，它们对于所述波导激光器的波长都具有高反射率，并因此形成共振器，其中所述端镜(6)之一至少部分透过泵浦激光器(7)的辐射。

5.如权利要求4所述的检测设备，其特征在于：端镜(6)形成在所述衬底(1)的侧面上。

6.如权利要求4或5所述的检测设备，其特征在：端镜(6)由电介质涂层形成。

7.如权利要求6所述的检测设备，其特征在于：至少两个波导激光器(2)包括不同电介质涂层的端镜(6)和/或包括导致该至少两个波导激光器(2)的不同激光波长的不同增益介质。

8.如权利要求1或2所述的检测设备，其特征在于：设计至少两个波导激光器(2)，使得该至少两个波导激光器(2)中的一个产生的激光波长不同于该至少两个波导激光器(2)中的另一个的激光波长。

9.如权利要求1至8中任一项所述的检测设备，其特征在于：几个波导激光器(2)平行地设置在所述衬底(1)上或在所述衬底(1)内。

10.如权利要求1至9中任一项所述的检测设备，其特征在于：一个或几个泵浦激光器(7)被设置在承载元件(9)上，其中固定和/或定位装置(10)被设置在所述承载元件(9)上，用于以正确的位置和对准关系在所述承载元件(9)上装配所述衬底(1)。

11.如权利要求10所述的检测设备，其特征在于：通过与所述固定和/或定位装置(10)连接的反馈电路(11，12)，所述固定和/或定位装置(10)允许将所述衬底(1)主动地对准在所述承载元件(9)上。

12.如权利要求11所述的检测设备，其特征在于：所述反馈电路(11，12)包括用于对所述波导激光器(2)的激光或施加在所述衬底(1)上的样品的荧光进行检测的光电检测器(12)，以及驱动所述固定和/或定位装置(10)直至所述光电检测器(12)检测到所述激光或荧光的最大强度的控制电路(11)。

13.如权利要求10至12中任一项所述的检测设备，其特征在于：所述一个或几个泵浦激光器(7)为半导体激光器或半导体激光棒。

14.如权利要求1至13中任一项所述的检测设备，其特征在于：所述顶层(3)被构造成提高耦合到所述样品中的所述波导激光器(2)的激光量。

15.如权利要求1至14中任一项所述的检测设备，其特征在于：不同的探测器区域(4)或所述不同探测器区域(4)的至少一些涂覆有不同的探测器材料。

16.使用根据权利要求1至15中任一项所述的检测设备的诊断仪器。