[发明专利]修正激光处理系统中的系统误差的方法有效

专利信息
申请号: 200680008802.0 申请日: 2006-02-15
公开(公告)号: CN101142049A 公开(公告)日: 2008-03-12
发明(设计)人: S·N·斯瓦林根;K·布鲁兰德;A·韦尔斯 申请(专利权)人: 电子科学工业公司
主分类号: B23K26/00 分类号: B23K26/00;G06F19/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 赵蓉民
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种在三个维度上校正激光微加工系统(20)的方法,其包含:扫描(70)样本工件(22)以决定3D表面;按一系列步骤计算出(72、74、76、78、80、82)对于该扫描数据的最佳拟合表面;以及储存(84)此结果,因而可对后续工件进行校正,以移除由相关的材料处置子系统内的偏差所引入的系统误差。该方法可视需要利用平板弯折理论以将粒子污染模型化,并利用样条函数以片段方式拟合该3D表面,以最小化局部偏差对整个表面拟合的影响。
搜索关键词: 修正 激光 处理 系统 中的 系统误差 方法
【主权项】:
1.一种校正工件处理系统的方法,该系统包含:含有具已知位置的基准点的工件;握持该工件的卡盘;发射激光束的激光器以及将该激光束导引至该工件的光学组件;材料处置子系统;以及控制子系统,其命令该材料处置子系统、该光学组件或两者,以将特定点沿该激光束而导引至该工件上的特定点,用以补偿在该激光束与该工件间的关系中的系统误差,此方法包含:在多个位置执行工件的3D测量,以建构出对应于该工件的3D图数据;通过比较该3D图上的所测基准点的位置与它们的已知位置,来修正在X及Y位置上的误差;对该3D图数据计算出第一最佳拟合表面;通过第一表面减法运算以移除第一误差,此减法运算包含从该3D图数据中减去该第一最佳拟合表面以形成第一剩余值;对由该第一表面减法运算所形成的第一剩余值,计算第二最佳拟合表面;通过第二表面减法运算以移除第二误差,此减法运算包含从该第一剩余值中减去该第二最佳拟合表面以形成第二剩余值;将由第二表面减法运算所形成的第二剩余值分成多个较小、相邻区域;对这些多个区域的每一个区域计算出局部性的最佳拟合表面,以形成相对应的局部表面;将X及Y位置修正、该第一最佳拟合表面、该第二最佳拟合表面与这些局部表面合并成为校正图;以及利用该校正图以估计在该激光束与该工件间的关系的误差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科学工业公司,未经电子科学工业公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200680008802.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top