[发明专利]发光二极管荧光粉发射光谱测量方法有效
| 申请号： | 200610154739.3 | 申请日： | 2006-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN101191770A | 公开（公告）日： | 2008-06-04 |
| 发明（设计）人： | 潘建根;沈海平 | 申请（专利权）人： | 杭州远方光电信息有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 浙江翔隆专利事务所 | 代理人： | 戴晓翔 |
| 地址： | 310053浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 发光二极管荧光粉发射光谱测量方法，属于光辐射测量技术领域。现有技术存在测量不准确的缺陷。本发明包括以下步骤：(一)用至少一个LED作为激发源，使其发出的激发光照射到被测荧光粉上而激发荧光粉发光，在被测荧光粉所发出光线的光路上设置一光学接收件以接收荧光粉发出的光。(二)使用光谱辐射测试仪对光学接收件接收到的光进行光谱测量。(三)将所测得的光谱数据通过解调分离算法计算得到待测荧光粉的发射光谱。通过准确模拟照明LED使用条件和采用解调分离算法，消除了带宽影响，减小了误差，提高了测量精度，通用性好。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 荧光粉 发射光谱 测量方法 | ||
【主权项】：
1.发光二极管荧光粉发射光谱测量方法，其特征在于它包括以下步骤：(一)用至少一个LED作为激发源，使其发出的激发光照射到被测荧光粉上而激发荧光粉发光，在被测荧光粉所发出光线的光路上设置一光学接收件以接收荧光粉发出的光。(二)使用光谱辐射测试仪对光学接收件接收到的光进行光谱测量。(三)将所测得的光谱数据通过解调分离算法计算得到待测荧光粉的发射光谱。
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