[发明专利]光学式检测传感器无效

专利信息
申请号: 200610136047.6 申请日: 2006-10-20
公开(公告)号: CN101165459A 公开(公告)日: 2008-04-23
发明(设计)人: 堀本启一;坂元明;奥出聪 申请(专利权)人: 株式会社藤仓
主分类号: G01D5/26 分类号: G01D5/26;G01D5/353
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 钟强;关兆辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 根据本发明的一个方式,提供一种光学式检测传感器,其将从光源输出的出射光照射到距第一光纤的端面相对距离而配置的被测定物上,并由第二及第三光纤接收该反射光,并计算出被测定物的变位量。在该传感器中,以使第一光纤的长度方向和被测定物相对于照射面的法线呈角度θ的方式进行配置,第二及第三光纤被平行配置,且被配置为该第二及第三光纤的长度方向和被测定物相对于照射面的法线呈角度θ,第一光纤和、第二及第三光纤隔着法线相对配置,第一至第三光纤,具有相对于光源的输出波长,dNA/dλ为4×10-5以下的特性。
搜索关键词: 光学 检测 传感器
【主权项】:
1.一种光学式检测传感器,其中,至少具有:光源;第一光纤,对从上述光源输出的出射光进行导光;第二光纤及第三光纤,将上述出射光照射到距上述第一光纤的端面相对距离而配置的被测定物上,接收由该被测定物反射的反射光;第一受光元件及第二受光元件,分别接收在上述第二光纤及上述第三光纤内导光的反射光,并变换为电信号;和运算处理单元,根据由上述第一受光元件及上述第二受光元件变换的电信号的比率,计算出上述被测定物的变位量,上述第一光纤被配置为:该第一光纤的长度方向和上述被测定物相对于照射面的法线呈角度θ,上述第二光纤及上述第三光纤被平行配置,且被配置为:该第二光纤及该第三光纤的长度方向和上述被测定物相对于照射面的法线呈角度θ,上述第一光纤和、上述第二光纤及上述第三光纤,隔着上述法线相对配置,上述第一至第三光纤,具有相对于上述光源的输出波长,dNA/dλ为4×10-5以下的特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社藤仓,未经株式会社藤仓许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610136047.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top