[发明专利]用于无损测定绝缘涂层的方法和装置无效
| 申请号： | 200610130917.9 | 申请日： | 2006-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN101055169A | 公开（公告）日： | 2007-10-17 |
| 发明（设计）人： | H·I·林格马赫;E·罗奇尔 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01N21/00;G01J5/10 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 李亚非;魏军 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供了一种用于为布置在物体(12)中的基底(16)上的绝缘涂层(14)确定厚度和热导率的装置(10)。该装置包括用于对物体(12)的表面快速施加多个光脉冲(24)的光源(20)，其中该表面包括绝缘涂层(14)。该系统还包括记录系统(28)，该记录系统(28)被配置成收集表示多个光脉冲在物体(12)中的传播的数据(36)。该装置还包括处理器(34)，该处理器(34)被耦合到记录系统(28)，并且被配置成接收来自记录系统(28)的数据(36)，以及被配置成确定绝缘涂层(14)的厚度值和热导率值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 无损 测定 绝缘 涂层 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种用于为布置在物体(12)的基底(16)上的绝缘涂层(14)确定厚度和热导率的装置(10)，该装置包括：光源(20)，用于对物体(12)的表面快速施加多个光脉冲(24)，其中该表面包括绝缘涂层(14)；记录系统(28)，其被配置成收集表示多个光脉冲(24)在该物体(12)中的传播的数据(36)；以及处理器(34)，其被耦合到该记录系统(28)，并且被配置成接收来自记录系统(28)的数据(36)，以及被配置成确定该绝缘涂层(14)的厚度值和热导率值。
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