[发明专利]用于无损测定绝缘涂层的方法和装置

权利要求书

1.一种用于为布置在物体的基底上的绝缘涂层确定厚度和热导率的装置， 该装置包括：

光源，用于对物体的表面快速施加多个光脉冲，其中该表面包括绝缘涂层；

滤光片，其被布置在该光源和物体之间，并且被配置成消除从该光源发出 的大于约两微米的光波长；

记录系统，其被配置成收集包括表示由所述对所述物体中的绝缘涂层快速 施加多个光脉冲而产生的多个热脉冲在所述绝缘涂层中的传播并反射离开所述 绝缘涂层的数据的反射波；以及

处理器，其被耦合到该记录系统，并且被配置成接收来自记录系统的数据 以确定所述绝缘涂层的厚度值和热导率值，所述确定所述厚度值和热导率值的 步骤包括：

根据所述数据获得所述绝缘涂层和基底的各自的时间-温度响应，根据各自 的时间-温度响应测量对数增量值，根据所述对数增量值计算所述绝缘涂层的蓄 热系数值，根据所述蓄热系数值计算热导率值，根据所述对数增量值计算反射 率值，利用所述反射率值确定变量，根据所述绝缘涂层和基底的各自的时间-温 度响应测量拐点值，利用所述拐点值和所述变量计算所述绝缘涂层的特征时间， 利用所述热导率值计算热扩散率值，以及根据所述热扩散率值和所述特征时间 确定所述绝缘涂层的厚度值。

2.根据权利要求1所述的装置，其中该物体的表面包括布置在所述绝缘涂 层上的暗色外围涂层。

3.根据权利要求1所述的装置，其中该绝缘涂层是热障涂层(TBC)或环 境屏障涂层(EBC)中的至少一个。

4.根据权利要求1所述的装置，其中该光源包括一个或多个闪光灯。

5.根据权利要求1所述的装置，其中该记录系统包括红外焦平面阵列照相 机。