[发明专利]用于半导体集成电路测试的器件接口板有效
| 申请号： | 200610116563.2 | 申请日： | 2006-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN101153877A | 公开（公告）日： | 2008-04-02 |
| 发明（设计）人： | 惠力荪;桑浚之;武建宏 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 顾继光 |
| 地址： | 201206上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于半导体集成电路测试的器件接口板，在一个具有24引脚的双列直插式插座的左右两侧各设置一跳线结构，使得对于不同管脚数的双列直插式封装的半导体集成电路器件，能够灵活调节其GND端和VDD端，用一块通用器件接口板完成对应多种引脚的器件的测试功能。既满足了具有不同管脚的半导体集成电路器件的测试要求，又降低了测试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 半导体 集成电路 测试 器件 接口 | ||
【主权项】：
1.一种用于半导体集成电路测试的器件接口板，其特征在于：包括一个具有24引脚的双列直插式插座，在该插座的左右两侧各设置一跳线结构，每一跳线结构，具有12行跳线，每一行跳线具有左、中、右三根跳线引针；左侧的跳线结构，每一行中间的跳线引针与所述插座对应的引脚相连接，左边的跳线引针与测试台的GND端相连接，右边的跳线引针与测试台的数字通道相连；右侧的跳线结构，每一行中间的跳线引针与所述插座对应的引脚相连接，右边的跳线引针与测试台的VDD端相连接，左边的跳线引针与测试台的数字通道相连。
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