[发明专利]静电放电测试装置及方法有效
| 申请号： | 200610111188.2 | 申请日： | 2006-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN101122621A | 公开（公告）日： | 2008-02-13 |
| 发明（设计）人： | 江进君 | 申请（专利权）人： | 华硕电脑股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08;G01R29/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 任永武 |
| 地址： | 台湾省台北*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种静电放电测试装置及其方法，用以寻找待测物中测试失败对象。首先，放置待测物于布设有数条导线的测试平台。接着，提供静电脉冲至这些导线的其中一导线。最后，若待测物发生误动作，则待测物中对应导线的一区域内具有测试失败对象。 | ||
| 搜索关键词： | 静电 放电 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种静电放电测试装置，包括：一测试平台，用以放置一待测物；以及多条导线，布设于该测试平台；其中，当一静电脉冲被提供至这些导线的其中一导线且该待测物发生误动作时，则该待测物中对应该导线的一区域内具有一测试失败对象。
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