[发明专利]静电放电测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明有关一种静电放电测试技术，且特别是有关一种静电放电测试装置及其方法。

背景技术

静电放电(Electrostatic Discharge，ESD)是造成大多数的电子组件或电子系统受到过度电性应力(Electrical Overstress，EOS)破坏的主要因素。这种破坏会导致半导体组件以及计算机系统等，产生误动作或形成一种永久性的毁坏，因而影响集成电路(Integrated Circuits，ICs)的电路功能，而使得电子产品工作不正常。因此，目前市面上所见的电子产品均须通过电磁兼容测试中的静电放电测试后才能贩售。目前在进行静电放电测试时，通常是利用符合法规规范的静电仿真器(electrostatic discharge generator，ESD generator)(又称为静电枪)来产生静电，以放电至待测产品，借此测试产品是否有静电放电缺陷。

一般来说，在利用一调整至默认值(例如：4KV)的静电枪进行静电放电测试时，是将静电枪碰触待测产品的外部壳体的一处，以使得静电电荷能够分布至整个产品。若待测产品仍然可以正常操作，则代表待测产品通过测试。若待测产品在进行静电放电测试后，待测产品因此而无法操作或产生误动作的情形，则代表该待测产品有静电放电缺陷。然而，在进行测试时，静电枪是与待测产品的外部壳体碰触，因此无法轻易得知在待测产品内部那一个地方发生静电问题。例如：利用静电枪对一个计算机主机的壳体表面打入静电电荷，结果该计算机主机马上死机。此时，测试人员往往无法马上得知该计算机主机死机的原因，更无法直接找出是因为计算机主机的主机板上的那一个电子组件发生问题。

因此，目前在进行静电放电测试时，往往需要依靠测试人员的经验来推测出发生静电问题之处，然后反复检测可能导致产品误动作的相关组件。如此，将非常耗费人力及检测工时。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是提供一种静电放电测试装置及其方法，用以寻找待测物中测试失败对象。主要利用数条导线来作为静电脉冲的放电路径，借以定义待测物受静电影响的区域。如此一来，提高寻找待测物中测试失败对象的精确度外，还大幅度节省工时及成本并增加产品良率。

根据本发明的目的，提出一种静电放电测试装置，包括测试平台及数条导线。测试平台用以放置待测物，数条导线布设于测试平台。当静电脉冲被提供至这些导线的其中一导线且待测物发生误动作时，则待测物中对应导线的一区域内具有测试失败对象。

根据本发明的目的，提出一种静电放电测试方法，用以寻找待测物中测试失败对象。首先，放置待测物于布设有数条导线的测试平台。接着，提供静电脉冲至这些导线的其中一导线。最后，若待测物发生误动作，则待测物中对应导线的一区域内具有测试失败对象。

为让本发明的上述目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图进行详细说明如下：

附图说明

图1是依照本发明第一实施例的静电放电测试装置的示意图。

图2是依照本发明第二实施例的静电放电测试装置与静电产生单元的示意图。

图3A是依照本发明第三实施例的静电放电测试装置的示意图。

图3B是图3A的待测物D的另一置放角度示意图。

图4是依照本发明的静电放电测试方法的流程图。

具体实施方式

第一实施例

请参照图1，其是依照本发明第一实施例的静电放电测试装置的示意图。静电放电测试装置100包括测试平台110、静电产生单元120、开关元件130、及接地接口140，其中测试平台110布设有多条导线。

上述测试平台110与接地接口140耦接，以使得测试平台100接地，也即测试平台110可通过接地接口140来将其所累积的静电电荷导入接地端，以避免测试平台110因多次输入静电脉冲P而累积过多静电，导致使用者可能受到危害。

开关元件130分别耦接测试平台110的这些导线与静电产生单元120。测试平台110具有一表面S，用以放置处于正常操作状态的待测物D(以虚线框表示)。于本实施例中，测试平台110为一印刷电路板(printed circuit board，PCB)，在其它实施例中，测试平台110也可为其它能够布设这些导线的等效装置。于本实施例中，待测物D为计算机装置的主机板，在其它实施例中，待测物D可为笔记本计算机、手机、或个人数字助理装置(PDA)。