[发明专利]检测治具及其检测电容的方法有效

专利信息
申请号: 200610111020.1 申请日: 2006-08-09
公开(公告)号: CN101122624A 公开(公告)日: 2008-02-13
发明(设计)人: 吕佩谚 申请(专利权)人: 日月光半导体制造股份有限公司
主分类号: G01R31/01 分类号: G01R31/01;G01R27/26;G01R31/00;G01R31/02
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所 代理人: 翟羽
地址: 中国台湾高雄市*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种可以检测出并联电容群中漏电流电容的检测治具,其包括有参考电压产生器、阻抗转换器、比较器及显示单元,其中参考电压产生器可用来输出第一电压,且阻抗转换器可用来将并联电容群的阻抗转换成第二电压。比较器分别耦接至参考电压产生器与阻抗转换器的输出,用来比较第一电压与第二电压的大小。另外,显示单元耦接于比较器的输出,其中通过加热并联电容群中的电容而改变第二电压,而比较器对应于第二电压的改变输出电压差,使得显示单元显示对应的电容是否有漏电流。
搜索关键词: 检测 及其 电容 方法
【主权项】:
1.一种检测治具,用来检测出并联电容群中的漏电流电容,其特征在于:该检测治具包括有一参考电压产生器、一阻抗转换器、一比较器及一显示单元,其中参考电压产生器是用来输出一第一电压;阻抗转换器是用来将并联电容群的阻抗转换成一第二电压;比较器是分别耦接于参考电压产生器与阻抗转换器的输出,用来比较第一电压与第二电压;以及显示单元是耦接于比较器的输出,可通过加热并联电容群中的其中一电容以改变第二电压,而比较器对应于第二电压的改变会输出一电压差,并利用显示单元来显示电容是否有漏电流。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于日月光半导体制造股份有限公司,未经日月光半导体制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610111020.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top