[发明专利]检测治具及其检测电容的方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种检测治具及检测方法，特别是有关于一种用来检测电容的检测治具及检测方法。

【背景技术】

漏电流(leaking current)常出现在电容与晶体管中，一般而言，在电路中存在有漏电流将使得电路的操作受到干扰，而无法达到原本预期的工作情况。

在承载板上，电容故障或损坏时，将使得电容出现漏电流的现象，影响电路的正常工作。在测试承载板(load board)时，若发现电容有漏电流现象的话，负责的维修人员经常凭借经验或是以猜测的方式，在多个电容所组成的电容群中找出可能故障的电容，再搭配电表量测以决定电容故障与否。由于电容必须先自承载板上拔除才能使用电表量测，因此很容易在拔除电容的过程中造成原本良好的电容被损坏。

针对上述维修方法的缺点，本发明改用新的检测治具及检测方法，以缩短整个维修分析的时间及减少因移除电容的误动作而造成不必要的损坏，使其能避免损坏原本良好的电容，同时正确检测出漏电流电容。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种检测漏电流电容的检测治具，其不需从承载板上拔除电容，而且还能同时有效地检测出漏电流电容。

本发明的另一目的在于提供一种检测电容的方法，其可以通过使用检测治具，而有效地测出漏电流电容，以减轻电路测试人员或维修人员的负担。

为达成上述目的，本发明采用如下技术方案：本发明用来检测出并联电容群中的漏电流电容的检测治具包括有一参考电压产生器、一阻抗转换器、一比较器及一显示单元，其中参考电压产生器是用来输出一第一电压；阻抗转换器是用来将并联电容群的阻抗转换成一第二电压；比较器是分别耦接于参考电压产生器与阻抗转换器的输出，用来比较第一电压与第二电压；以及显示单元是耦接于比较器的输出，可通过加热并联电容群中的其中一电容以改变第二电压，而比较器对应于第二电压的改变会输出一电压差，并利用显示单元来显示电容是否有漏电流。

上述参考电压产生器具有一第一分压电路，而阻抗转换器具有一第二分压电路，且第一分压电路与第二分压电路构成一电桥。

上述第一分压电路具有一可变电阻，用来调整第一电压。

上述显示单元具有一运算放大器，其耦接于比较器的输出，该运算放大器能够响应于电压差而产生一负电压输出。

上述显示单元还具有一发光二极管，发光二极管的阳极接地，而阴极耦接至负电压输出。

上述检测治具还包括一耦接于运算放大器的输入端的校正电压产生器，用来产生校正电压。此外，校正电压产生器具有用来调整校正电压的可变电阻。另外，本发明的检测治具还包括有用来接通可变电阻至运算放大器的输入端的开关。

本发明还提供了检测电容的方法，其检测步骤包括有：首先，产生一第一电压；然后，将并联电容群的阻抗转换成一第二电压，并输出第二电压至一比较器；接着，比较器会接收第一电压与第二电压，并输出至一显示单元；最后，加热并联电容群中的其中一个电容以改变第二电压，而比较器对应于第二电压的改变输出电压差，以使显示单元对应显示电容是否有漏电流。

在上述方法中，第一电压与第二电压是以电桥分压而成，且电桥是以可变电阻来调整第一电压。此外，显示单元是以运算放大器接收电压差，并对应产生负电压输出且发光二极管耦接负电压输出，以显示检测结果。

在上述的检测电容的方法中，运算放大器可以使用可变电阻来校正输入端的电压，而可变电阻是以开关接通至运算放大器的输入端。

相较于现有技术，本发明通过利用比较器、发光二极管与运算放大器的电路特性，并配合参考电压产生器与校正电压产生器，从而使得本发明检测治具能够有效地检测出电容是否出现了故障。

【附图说明】

图1是本发明检测治具的一实施例的电路架构图。

图2是本发明检测电容的方法的实施流程图。

【具体实施方式】

由于电容是由多个介电层组成，在高温环境下，具有漏电流现象的电容，其内部介电层间的电子流动速度快于正常电容的流动速度，此将使得电容的阻抗值有明显变低的情形。本发明即利用具有漏电流现象的电容的此项特性，并经由观察发光二极管的亮起与否，来找出存在有漏电流现象的电容。