[发明专利]防止粘晶胶污染晶片焊垫的封装构造及其基板有效

专利信息
申请号: 200610098733.9 申请日: 2006-07-10
公开(公告)号: CN101106119A 公开(公告)日: 2008-01-16
发明(设计)人: 林鸿村 申请(专利权)人: 南茂科技股份有限公司;百慕达南茂科技股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/31
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是有关于一种防止粘晶胶污染晶片焊垫的封装构造及其基板。该封装构造为板上晶片封装型态,主要包括该基板、一晶片、粘晶胶、复数个焊线及一封胶体。该基板具有至少一打线通道,形成在该基板的粘晶表面的一防焊层具有至少一导胶开口,以在该打线通道两侧各形成一防焊挡条,藉此防止粘晶时粘晶胶污染至晶片焊垫。因此,粘晶胶能选用低成本的糊状粘晶胶取代现有的胶膜型粘晶材料,且不需要扩大打线槽道的宽度,以符合高密度封装的所需且不会增加元件。
搜索关键词: 防止 粘晶胶 污染 晶片 封装 构造 及其
【主权项】:
1.一种防止粘晶胶污染晶片焊垫的封装构造,其包括:一基板,其具有一上表面、一下表面以及至少一打线通道,其中该上表面与该下表面各形成有一第一防焊层与一第二防焊层;一晶片,其具有一主动面以及复数个设于该主动面的焊垫;一粘晶胶,其粘接该晶片的该主动面至该基板的该上表面,并使该些焊垫位于该打线通道内;复数个焊线,其经过该打线通道而电性连接该晶片的该些焊垫至该基板;以及一封胶体,其至少形成于该打线通道内,以密封该些焊线;其特征在于其中所述的第一防焊层具有至少一导胶开口,以在该打线通道两侧各形成一防焊挡条,藉此防止该粘晶胶污染至该晶片的该些焊垫。
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