[发明专利]记忆体动态管理方法有效
| 申请号: | 200610079098.X | 申请日: | 2006-04-29 |
| 公开(公告)号: | CN101064195A | 公开(公告)日: | 2007-10-31 |
| 发明(设计)人: | 许昌伟;吴濬杰 | 申请(专利权)人: | 宇瞻科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G11C29/52 | 分类号: | G11C29/52 |
| 代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 本发明是有关于一种记忆体动态管理方法,其是适用于一可携式储存装置中,主要特征是包括下列步骤。首先,读取储存于该可携式储存装置的使用模式对照表,检查目前记录使用模式的标签为第k级,并确认该保留区的最大容许坏轨量,其中1≤k≤n;接着,读取该保留区中的坏轨数量。检查该保留区中的坏轨数量是否大于最大容许坏轨量,若是,修改使用模式,修改该标签由第k级至第k+1级;若否,则不用修改,程式结束。本发明藉由以软件程式动态地修改可携式储存装置的储存空间,可有效解决现有的可携式储存装置中保留区的固定空间,只能容纳一定坏轨数量,无法根据可携式储存装置中的坏轨数量来动态地更改保留区的问题,而可使该可携式储存装置的使用效能达到最佳化。 | ||
| 搜索关键词: | 记忆体 动态 管理 方法 | ||
【主权项】:
1、一种记忆体动态管理方法,其特征在于其是适用于一可携式储存装置,该可携式储存装置包括一以快闪记忆体为主的第一储存单元及一第二储存单元,该第一储存单元包括一用以存放坏轨的保留区,该第二储存单元具有一使用模式对照表,该使用模式对照表具有n级使用模式,该n为正整数;其中各该级定义有该保留区的最大容许坏轨量,该保留区具有一记录目前使用模式的标签,该记忆体动态管理方法包括下列步骤:a.读取该可携式储存装置的使用模式对照表,检查目前该标签的使用模式为第k级,以确认该保留区的最大容许坏轨数量,其中1≤k≤n;b.读取该保留区中的坏轨数量;以及c.检查该保留区中的坏轨数量是否大于该第K级模式定义的最大容许坏轨量,若是,修改使用模式,使记录坏轨的标签由第k级改至第k+1级。
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