[发明专利]放置热电阻温度检测器晶片的高温晶片夹持器无效

专利信息
申请号: 200610024841.1 申请日: 2006-03-17
公开(公告)号: CN101039537A 公开(公告)日: 2007-09-19
发明(设计)人: 陈钦裕;钟建民;林世鸿;周敏祺 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H05B3/02 分类号: H05B3/02;H05B1/02;G05D23/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种高温晶片夹持器,用于在测量调整热板温度时放置热电阻温度检测器晶片。目前将热电阻温度检测器晶片用于测量调节各种热板温度时,需要工程师手工放置热电阻温度检测器晶片于热板上,这个过程中,一方面由于空间狭窄使得操作不便,另一方面所述操作的环境温度较高(100℃~250℃),也不利于人手操作。这种条件容易造成工程师不小心打破热电阻温度检测器晶片而造成浪费,且容易造成危险。使用本发明提供的工具可以防止这些问题。
搜索关键词: 放置 热电阻 温度 检测器 晶片 高温 夹持
【主权项】:
1、一种放置热电阻温度检测器晶片的高温晶片夹持器,用来夹持热电阻温度检测器晶片并将其放置于热板上,使热电阻温度检测器晶片可用于测量调整热板温度,其特征在于,具有如下结构:握柄;和握柄一体成型的开口环形圈,开口位于握柄的相对位置;至少三个固定于环形圈下面的支持块,所述支持块位于环形圈内侧。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610024841.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top