[发明专利]光纤母材的制造方法及制造装置有效
| 申请号: | 200580048853.1 | 申请日: | 2005-11-10 |
| 公开(公告)号: | CN101132997A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 |
| 发明(设计)人: | 井上大;吉田真 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
| 主分类号: | C03B37/018 | 分类号: | C03B37/018;C03B37/07 |
| 代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明提供一种利用VAD法的光纤母材(2)的制造方法。该光纤母材(2)的制造方法包括检测程序、平均化程序以及调整程序。检测程序利用离散的值对灰质核心的顶端位置(3)进行检测,平均化程序将所检测的顶端位置(3)的值以预先确定的时间进行平均化,调整程序对灰质核心的制造条件进行调整以使被平均化的顶端位置(3)的值成为一定。其中,在调整程序中对制造条件进行逐次调整,以使平均化了的顶端位置(3)的值,与预先被离散地检测而得到的相邻的2个值间所设定的目标位置的值之差为零。 | ||
| 搜索关键词: | 光纤 制造 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光纤母材的制造方法,为一种利用VAD法的光纤母材的制造方法,包括:借由离散的值来对灰质核心的顶端位置进行检测的检测程序、将所检测的顶端位置的前述值以预先确定的时间来进行平均化的平均化程序、对灰质核心的制造条件进行调整以使被平均化的顶端位置的前述值成为一定的调整程序;其特征在于:在前述调整程序中对制造条件进行逐次调整,以使平均化了的顶端位置的前述值,与预先以离散方式检测而得到的相邻的2个顶端位置的前述值之间所设定的目标位置的值之差成为零。
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