[发明专利]存储装置的磁道间距检查方法、程序及存储装置无效
| 申请号： | 200580048713.4 | 申请日： | 2005-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN101128869A | 公开（公告）日： | 2008-02-20 |
| 发明（设计）人： | 原武;大薮弘志 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/00 | 分类号： | G11B5/00;G11B5/84 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 黄纶伟 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在制造检查步骤中检查设置于存储装置上的盘片介质的全部磁道的磁道间距。首先，生成使目标磁道位置以横穿磁道的方式变化的目标位置轨道，以磁头检测位置追随目标位置轨道的方式对磁头致动器进行反馈控制。当目标位置轨道和磁头检测位置之间的误差超过预定阈值时，判断为磁道间距异常，在介质的磁道跳过表中记录磁道序号。作为目标位置轨道，与介质旋转同步地生成具有多条磁道宽度的振幅的目标位置正弦波轨道。作为其它的目标位置轨道，在介质最外侧和最内侧之间生成相隔一定时间横穿各磁道间隔的目标位置线性轨道。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 装置 磁道 间距 检查 方法 程序 | ||
【主权项】：
1.一种存储装置的磁道间距检查方法，其特征在于，所述磁道间距检查方法包括：目标位置轨道生成步骤，生成使目标磁道位置以横穿磁道的方式变化的目标位置轨道；磁头位置控制步骤，以磁头检测位置追随所述目标位置轨道的方式对磁头致动器进行反馈控制；以及磁道间距判断步骤，当所述目标位置轨道和磁头检测位置之间的误差超过预定阈值时，判断为磁道间距异常。
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