[发明专利]存储装置的磁道间距检查方法、程序及存储装置

说明书

技术领域

本发明是涉及用于检查盘片介质的磁道间距的磁道间距检查方法、程序及存储装置，特别涉及用于检查盘片介质的整体磁道间距的磁道间距检查方法、程序及存储装置。

背景技术

以往，在磁盘装置的制造步骤中，利用伺服磁道写入设备设定磁道记录密度TPI、即磁道间距并写入伺服磁道，该磁道记录密度TPI具有磁盘介质所要求的记录容量。

写入伺服磁道时，需要以确保不会从磁头的写入核心宽度抹去相邻磁道的方式确定磁道间距，除此之外，考虑伺服磁道写入时的磁道之间的间距误差，倾向于以拓宽磁道间距方式来进行确定。

并且，在以往的伺服磁道写入处理步骤中，作为步骤内检查方法，检查磁道自身是否可以正确读写。

专利文献1：日本特开2003-331545号公报

但是，近些年来，伴随着写入核心及读取核心的微细化所带来的磁道密度的提高，磁道间距逐渐变窄，因此，伺服磁道写入设备容易受到写入伺服磁道时产生的偏差的影响。

然而，作为步骤内检查，检查介质缺陷等的磁道自身状态，但不检查磁道间距，所以有可能在保持狭窄磁道的状态下混过检查步骤而出厂。这样的磁盘装置出厂后，狭窄的磁道因相邻磁道的写入而产生写入偏差，有可能无法读取写入数据。

另一方面，作为检查相邻磁道写入影响的方法，有测定写入擦除边界的方法。这种写入擦除边界是在对象磁道上写入测试数据后，在相邻磁道上写入其它测试数据，然后读取对象磁道，如果能够读出，则以靠近方式写入相邻磁道，测定相邻磁道的靠近所致的写入界限。

但是，测定写入擦除边界时，在以靠近方式写入相邻磁道的同时，求出对象磁道的错误率，每1条磁道的测定都相当费时。因此，对整个磁盘介质检查磁道间距变窄的异常，明显降低了生产效率，所以存在不能适用的问题。

本发明的目的在于，提供能够在短时间内高效地对整个介质检查磁道间距的存储装置的磁道间距检查方法、程序及存储装置。

发明内容

本发明提供一种存储装置的磁道间距检查方法。本发明的磁道间距检查方法，其特征在于，所述磁道间距检查方法包括：

目标位置轨道生成步骤，生成使目标磁道位置以横穿磁道的方式变化的目标位置轨道；

磁头位置控制步骤，以磁头检测位置追随目标位置轨道的方式对磁头致动器进行反馈控制；以及

磁道间距判断步骤，当目标位置轨道和磁头检测位置之间的误差超过预定阈值时，判断为磁道间距异常。

本发明的具体方式如下：

在目标位置轨道生成步骤中，作为目标位置轨道，生成目标位置正弦波轨道，该目标位置正弦波轨道具有1条或多条磁道宽度的振幅，每当介质旋转1周时，使目标磁道位置按照多个周期以正弦方式变化，

在磁头位置控制步骤中，以磁头检测位置追随目标位置正弦波轨道的方式对磁头致动器进行反馈控制，

在磁道间距判断步骤中，检测目标位置正弦波轨道和磁头检测位置之间的误差，对于误差超过了预定阈值的磁道，判断为磁道间距异常。

这里，在目标位置轨道生成步骤中，与伺服帧同步地生成目标位置正弦波轨道的各目标磁道位置；在磁道间距判断步骤中，提取与各目标磁道位置同步的磁头检测位置而检测误差，对于误差超过了预定阈值的磁道，判断为磁道间距异常。

并且，在目标位置轨道生成步骤中，与伺服帧同步地生成目标位置正弦波轨道的各目标磁道位置；在磁道间距判断步骤中，在介质旋转1周的期间内提取与各目标磁道位置同步的磁头检测位置并对其取得平均，对于平均磁头检测位置和目标位置正弦波轨道之间的误差超出了预定阈值的磁道，判断为磁道间距异常。

此外，磁道间距判断步骤中，也可以在介质旋转1周的期间内提取与目标位置正弦波轨道的各目标磁道位置同步的磁头检测位置的成分并对其取得平均后，求出介质旋转多周后得到的平均磁头检测位置的平方值的平均后的平方根，对于平方值的平均后的平方根和目标位置正弦波轨道成分之间的误差超出了预定阈值的磁道，判断为磁道间距异常。

本发明的其它具体方式如下：

目标位置轨道生成步骤中，作为目标位置轨道，在介质的最外侧和最内侧之间生成目标位置线性轨道，该目标位置线性轨道使目标磁道位置以相隔一定时间横穿各磁道间隔的方式变化，

磁头位置控制步骤中，以磁头检测位置追随目标位置线性轨道的方式对磁头致动器进行反馈控制，

磁道间距判断步骤中，对于目标位置线性轨道和磁头检测位置之间的误差超过阈值的磁道，判断为磁道间距异常。