[发明专利]离子束利用的最优化无效

专利信息
申请号: 200580047494.8 申请日: 2005-11-08
公开(公告)号: CN101111926A 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: A·雷;M·格雷夫 申请(专利权)人: 艾克塞利斯技术公司
主分类号: H01L21/265 分类号: H01L21/265;H01J37/317
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 曾祥夌;王小衡
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用于最优化离子注入的方法,其中通过离子束(110)在两维上扫描基片(105)。所述方法提供了包括如下各项中一个或多个的工艺配方:离子束电流,离子剂量,以及基片在慢扫描方向通过离子束的次数。基于所述工艺配方来确定离子束的剖面,并且确定离子束的尺寸。基于所要求的注入均匀性和工艺配方来选择在快扫描方向(142)上的多个不同扫描速度中的一个。基于如下各项中的一个或多个来控制工艺配方:所要求的均匀性,基片通过时间,所要求的最小离子束电流,以及一个或多个基片条件。基于注入的剂量来选择在慢扫描方向(144)上的多个速度中的一个。
搜索关键词: 离子束 利用 优化
【主权项】:
1.一种在离子注入基片期间最优化离子束利用的方法,其中晶片在快扫描方向上和大体上正交的慢扫描方向上通过所述离子束,所述方法包括:为离子注入提供工艺配方,其中大体上确定所述离子束的剖面;提供一组性能判据,其中包括如下各项中的一个或多个:在整个基片上离子注入的所要求的最大不均匀性,所要求的基片通过量,最小离子束电流,及一个或多个所要求的基片条件;基于所确定的离子束剖面和所述性能判据组,选择基片在快扫描方向上的多个不同速度中的一个;以及基于所选的快扫描速度来控制所述工艺配方。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于艾克塞利斯技术公司,未经艾克塞利斯技术公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580047494.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top