[发明专利]获取眼镜框架几何特征的装置及方法有效
| 申请号： | 200580039117.X | 申请日： | 2005-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN101056740A | 公开（公告）日： | 2007-10-17 |
| 发明（设计）人： | O·博泽托 | 申请（专利权）人： | 百利奥国际公司 |
| 主分类号： | B24B9/14 | 分类号： | B24B9/14;G01B5/20 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 余全平 |
| 地址： | 法国拉*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本发明涉及一装置，所述装置包括：一固定的基准部件(3)；一测量触探器(19)，其测量所述框架的内轮廓，并相对于所述固定的基准部件(3)是活动的；以及框架(2)厚度估测部件。所述框架厚度估测部件包括用于测量轮廓的触探器(19)。本发明还涉及一种框架几何特征获取方法，按照所述方法，框架(2)的厚度通过触探器(19)进行估测。 | ||
| 搜索关键词： | 获取 眼镜 框架 几何 特征 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.眼镜框架几何特征的获取装置，其包括：一固定的基准部件(3)；一测量触探器(19)，其测量所述框架的内轮廓，并相对于所述基准部件(3)是活动的；至少一对(5)的框架紧持机构(11，12)；位置测量与记录部件，其测量并记录所述紧持机构中的一第一紧持机构(11)的位置；与厚度估测部件，其估测所述框架的厚度(e)，并包括所述轮廓测量触探器(19)，其特征在于，所述获取装置包括：移动部件，所述移动部件用于把所述触探器(19)移动到一个与第二紧持机构(12)相接触的位置；以及位置记录部件，其记录所述触探器相应的接触位置，所述估测部件适于利用所述被记录的位置来估测所述框架(2)的厚度(e)。
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