[发明专利]获取眼镜框架几何特征的装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一获取眼镜框架几何特征的装置，其包括一固定的基准部件、一相对于基准部件活动的框架内轮廓测量触探器，以及框架厚度估测装置。

本发明还涉及一种在这类装置内获取眼镜框架几何特征的方法。

背景技术

本发明的背景与基本问题首先参考所附图的图1与图2进行解释。

图1示意性且局部地以俯视透视图示出了本发明所针对类型的装置1，所述装置中放置有一眼镜框架，所述框架被以点划线示意性地用标注2表示出，且其轮廓需要被测量。

装置1包括一基准部件3，两对面对着面的夹具5和一定中楔块(即“假鼻(faux-nez)”)7被设置在该基准部件上。夹具5与楔块7被设置成用来令框架2相对于部件3保持在固定位置，且用来适应于框架的不同形状。为了适应框架不同的宽度，所述部件3事实上由两个相对的构件3A、3B形成，这两个构件以水平滑动的方式安装在仪器的一底座上，从而可以调节两个面对着面的夹具之间的间距。

把框架安装在所述装置上及对两个滑动构件3A、3B的间距进行调节之后，所述两个滑动构件被锁定就位。所述部件3于是相对于仪器底座保持固定，该部件可以与所述底座同化成一体。

在某些类似的装置中，不再设置楔块，且仅仅由夹具来保证框架的保持。

底座包括一测量台9，该测量台设置成用于在运行中呈水平的，且通过所述部件3、夹具5与可能地还有楔块7，使基本水平的框架2保持在所述测量台的上方。

每个夹具5由一对紧持机构11、12形成，其中第一个紧持机构为在高度上固定的一上分支11，而第二个紧持机构为在高度上可活动的一下分支12。这两个分支平行，且具有其朝向相对夹具5的、即朝向框架内部方向的自由端。

装置1还包括旋转安装于测量台9上的一测量转架15，且所述测量转架设有一径向凹槽17。所述转架配备有一触探器(palpeur)19，所述触探器包括嵌合在凹槽17内的一垂直杆21与基本水平的一接触尖端22。所述尖端22与杆21相连接，且径向地朝向外部。

转架15上连接有一轴系统Z、ρ，在该系统中：

-Z为垂直于测量台9的转架15的旋转轴，假设该轴是垂直的；且

-ρ为对应凹槽17轴的径向轴，其与转架一起围绕轴Z旋转。

触探器19与转架15一起相对于底座3旋转地活动，且该触探器能够在凹槽17内进行径向的和垂直的移动。

装置1配有驱动转架15旋转的驱动部件(未示出)，且配有驱动触探器19的驱动部件(未示出)，所述驱动部件允许将触探器在凹槽17中径向地移动，并允许垂直地移动触探器。装置1还包括用于记录触探器19移动的移动记录部件(未示出)。

此外，装置1还包括机动的或非机动的部件，所述部件用于在待测量的框架被嵌入后紧固夹具5的分支11、12。

在图2中，在由一夹具5经过的一径向垂直平面中，已经示意性地示出了框架2环的当前截面、以及处在基准位置的触探器19的上部分，所述上部分收起在转架15内。在所述图中，示出了径向水平轴ρ与垂直轴Z。

如该图所示，框架环(cercle de monture)在其内廓边上包括一V形的沟槽(gorge)或沟缘(drageoir)31。框架2环的当前截面、其中尤其是沟缘31的轮廓，相对于中间水平面是对称的。

夹具5的各分支11、12都包括一紧持内表面11A、12A和一外表面11B、12B。

被夹紧在两个分支的紧持内表面11A、12A之间的框架2的厚度e等于两个分支11、12之间的间距，即等于两个紧持内表面11A、12A之间的间距。

为了以极大的精确度获得在沟缘31底部的框架内轮廓的形状数据，必须在令转架15旋转之前，把触探器的接触尖端22嵌插在沟缘31的底部中。为此，必须精确地获知框架2的厚度e，从而使接触尖端22插引至沟缘31内能在一半厚度处进行，即在沟缘31底部的高度进行。

在现有技术中，框架的厚度e通过连接在夹具的活动分支12上的一传感器进行测量，所述传感器能监测分支12在垂直轴上于一基准位置与一框架紧持位置之间进行的移动。

因此，在已知装置中，对框架厚度的测量意味着一特殊传感器的存在，从仪器生产成本方面看这是不合算的。

发明内容

本发明的目的在于改进所述缺点，并提出一上述类型的装置，其中，与测量框架厚度的功能相关的成本被大幅降低，甚至无需成本。