[发明专利]用于检查感兴趣对象的计算机断层摄影装置和方法无效

专利信息
申请号: 200580038569.6 申请日: 2005-11-02
公开(公告)号: CN101056582A 公开(公告)日: 2007-10-17
发明(设计)人: 安迪·齐格勒;托马斯·克勒;米夏埃多·格拉斯 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 一种用于检查感兴趣对象(107)的计算机断层摄影装置(100),该计算机断层摄影装置(100)包括探测元件(123),适于以能量分辨方式探测从感兴趣对象(107)相干散射的电磁辐射,以及确定单元(118),适于根据对从探测元件(123)接收的探测信号进行的统计分析,确定关于感兴趣对象(107)的结构信息。
搜索关键词: 用于 检查 感兴趣 对象 计算机 断层 摄影 装置 方法
【主权项】:
1、一种用于检查感兴趣对象(107)的计算机断层摄影装置(100),该计算机断层摄影装置(100)包括探测元件(123),适于以能量分辨方式探测从感兴趣对象(107)相干散射的电磁辐射;确定单元(118),适于根据对从所述探测元件(123)接收的探测信号进行的统计分析,确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。
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