[发明专利]用于检查感兴趣对象的计算机断层摄影装置和方法

权利要求书

1、一种用于检查感兴趣对象(107)的计算机断层摄影装置(100)，该计算机断层摄影装置(100)包括

探测元件(123)，适于以能量分辨方式探测从感兴趣对象(107)相干散射的电磁辐射；

确定单元(118)，适于根据对从所述探测元件(123)接收的探测信号进行的统计分析，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。

2、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述确定单元(118)适于根据对探测信号的位置和能量进行的分析，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。

3、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述确定单元(118)适于根据对电磁辐射的每个量子的探测信号单独进行的分析，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。

4、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述确定单元(118)适于根据对探测信号进行的极大似然分析，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。

5、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述确定单元(118)适于根据对探测信号进行的对数似然分析，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。

6、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述确定单元(118)适于在考虑了吸收系数的实验和/或理论预定值的情况下，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。

7、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述确定单元(118)适于在考虑了电磁辐射源(104)和所述探测元件(123)之间的电磁辐射的衰减的能量相关性的情况下，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。

8、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述确定单元(118)适于在考虑了所述探测元件(123)的接受度的能量相关性的情况下，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。

9、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述确定单元(118)适于根据对探测信号进行的迭代分析，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。

10、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述确定单元(118)适于根据对动量传递的不同值单独执行的探测信号的分析，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。

11、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述探测元件(123)适于探测预定数量的电磁辐射的量子，或者探测预定时间间隔内的电磁辐射的量子，用于统计分析。

12、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，适于为相干散射计算机断层摄影装置。

13、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，包括电磁辐射源(104)，其适于向感兴趣对象(107)发射电磁辐射，并且所述计算机断层摄影装置包括准直器(105)，其布置在所述电磁辐射源(104)和所述探测元件(123)之间，所述准直器(105)适于准直由所述电磁辐射源(104)发射的电磁辐射束，使其形成扇形束或锥形束。

14、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述探测元件(123)形成单层探测器阵列。

15、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，其中，所述探测元件(123)形成多层探测器阵列(108)。

16、根据权利要求1所述的计算机断层摄影装置(100)，配置为以下组中的一个，该组包括行李安检装置、医疗应用装置、材料测试装置和材料科学分析装置。

17、一种使用计算机断层摄影装置(100)检查感兴趣对象(107)的方法，该方法包括下列步骤：

以能量分辨方式探测从感兴趣对象(107)相干散射的电磁辐射；

根据对所探测的信号进行的统计分析，确定关于所述感兴趣对象(107)的结构信息。