[发明专利]用于手征光学外差法的系统和方法无效

专利信息
申请号: 200580026830.0 申请日: 2005-06-29
公开(公告)号: CN101052868A 公开(公告)日: 2007-10-10
发明(设计)人: P·R·吉布斯;J·D·毕布 申请(专利权)人: 斯埃诺公司
主分类号: G01N21/21 分类号: G01N21/21
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光;李峥
地址: 美国佐*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于改进对样品的手征特性的检测的设备和方法,其首先以第一调制频率ω的探测光束调制,并用第二调制频率φ进一步调制。非线性光电检测器使该第一调制与该第二调制混合以在互调制边频带处分析频率分量,该非线性光电检测器可以包括多个检测器部分以形成平衡接收器,其中该互调制边频带级与该样品的手征光学特性相关。该互调制边频带可以为相加边频带或相减边频带。可以将锁相检测器用于接收从该非线性光电检测器输出的信号并产生不同调制频率的调制信号。另外,该非线性光检测器可以对该互调制边频带级的比值,例如(φ+2ω)/(φ+ω),进行分析,以获得与该样品的该手征特性线性相关的信号。
搜索关键词: 用于 光学 外差 系统 方法
【主权项】:
1.一种用于检测样品的手征特性的方法,包括:产生以第一调制频率ω调制的光束;以第二调制频率φ对该光束进行调制;在非线性光电检测器处接收所述被调制的光束;以及从所述非线性光电检测器的混合输出分析至少一个互调制边频带频率,以确定所述样品的手征特性。
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