[发明专利]用于手征光学外差法的系统和方法

权利要求书

1.一种用于检测样品的手征特性的方法，包括：

产生以第一调制频率ω调制的光束；

以第二调制频率φ对该光束进行调制；

在非线性光电检测器处接收所述被调制的光束；以及

从所述非线性光电检测器的混合输出分析至少一个互调制边频带频率，以确定所述样品的手征特性。

2.根据权利要求1的方法，其中所述接收步骤还包括通过分析偏振器接收所述被调制的光束，所述分析偏振器将来自所述被调制的光束的分离光束提供到所述非线性光电检测器。

3.根据权利要求1的方法，其中所述接收步骤还包括通过分析偏振器接收所述被调制的光束，所述分析偏振器将所述被调制的光束的第一部分提供到所述非线性光电检测器内的第一检测器，并且将所述被调制的光束的第二部分提供到所述非线性光电检测器的第二检测器，其中所述第一检测器和第二检测器用作为平衡光接收器。

4.根据权利要求3的方法，其中第一调制信号的所述频率ω和第二调制信号的所述频率φ与接收所述光接收器的输出的锁相检测器的频率基准同步。

5.根据权利要求4的方法，其中所述第一调制信号是大的光学调制信号，而所述第二调制信号是更弱的关注的手征光学信号。

6.根据权利要求1的方法，还包括，在接收步骤之前，将所述被调制的光束的第一部分和所述被调制的光束的第二部分清零，以便对于所述分析步骤减去由所述第一调制信号和第二调制信号构成的基频。

7.根据权利要求6的方法，其中所述分析步骤还包括，在一组相加互调制边频带的一个或更多个处选择性地分析所述至少一个互调制边频带频率。

8.根据权利要求7的方法，其中所述分析步骤还包括在频率为φ+ω的相加互调制边频带处选择性地分析所述至少一个互调制边频带频率。

9.根据权利要求7的方法，其中所述分析步骤还包括在频率为φ+2ω的相加互调制边频带处选择性地分析所述至少一个互调制边频带频率。

10.根据权利要求6的方法，其中所述分析步骤还包括在一组相减互调制边频带中的一个或更多个处选择性地分析所述至少一个互调制边频带频率。

11.根据权利要求1的方法，其中所述分析步骤还包括分析互调制边频带级的比值。

12.根据权利要求11的方法，其中分析所述互调制边频带级的比值(φ+2ω)/(φ+ω)，获得与所述样品的手征特性线性相关的信号。

13.根据权利要求12的方法，其中所述样品的手征特性是所述样品的对映异构体的比值。

14.一种用于测量样品的手征光学特性的设备，包括：

第一调制器，其以ω的频率在探测光束上施加第一调制；

第二调制器，其以φ的频率在所述探测光束上施加第二调制；以及

非线性光电检测器，其混合所述第一调制与所述第二调制，以分析在互调制边频带处的频率分量，所述互调制边频带的级与所述样品的手征光学特性相关。

15.根据权利要求14的设备，其中所述第一调制器对所述探测光束施加光学调制。

16.根据权利要求15的设备，其中所述第二调制器对所述探测光束施加系统偏振调制。

17.根据权利要求14的设备，还包括分析偏振器，其在所述第二调制器之后接收所述探测光束，并将分离的光束提供到所述非线性光电检测器。

18.根据权利要求17的设备，其中所述非线性光电检测器还包括：

第一检测器，其接收所述分离的光束的第一部分；以及

第二检测器，其接收所述分离的光束的第二部分。

19.根据权利要求18的设备，其中具有所述第一检测器和所述第二检测器的所述非线性光电检测器是平衡光接收器。

20.根据权利要求14的设备，还包括锁相检测器，其用于接收从所述非线性光电检测器输出的信号，并为所述第一调制器和所述第二调制器产生调制信号。

21.根据权利要求20的设备，其中所述第一调制信号的频率ω和所述第二调制信号的频率φ与所述锁相检测器的频率基准同步。