[发明专利]长形物体的表面分析无效
| 申请号： | 200580023724.7 | 申请日： | 2005-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN101213441A | 公开（公告）日： | 2008-07-02 |
| 发明（设计）人： | 让－弗朗索瓦·法杜 | 申请（专利权）人： | 让－弗朗索瓦·法杜 |
| 主分类号： | G01N21/952 | 分类号： | G01N21/952 |
| 代理公司： | 北京万慧达知识产权代理有限公司 | 代理人： | 葛强;秦开宗 |
| 地址： | 法国雷鹏*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 将多个光源(4)以环形方式设置在平面中，所述光源(4)在该环中以旋转方式单个且顺序地发光，朝向该环的轴线(5)且以相对于该轴线倾斜一个非直角的角度发出入射光束。该光束被大致沿轴线(5)放置的物体(2)反射，在那里由设置在与光源所在的环平行的平面中的光电探测器(8a，8b，8c)中的一个接收该光束。表面的形状缺陷，表面的不规则性和颜色变化的存在是通过由光电探测器接收到的能量的变化确定的。这种测量为物体表面的非常小区域提供了具有良好分辨率的连续照明。 | ||
| 搜索关键词： | 物体 表面 分析 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析例如导线(2)或类似物的长形物体的表面状况的装置，包括：-大致以环形布置在一个平面内的多个光源(4)，每个所述光源(4)朝向该环的轴线(5)发出主入射光束(6)，物体(2)设置在所述轴线(5)的附近，以便使所述物体(2)的待进行分析的表面区域设置在所述入射光束(6)的路径上；-至少三个光电探测器(8，8a，8b，8c)，它们布置在一个大致与光源(4)所在的环相平行的平面中；其特征在于，光源(4)被布置成使得主入射光束(6)与环的轴线(5)形成既非直角又非零度角的角度(α)，并且所述光电探测器(8)被布置成使得三个所述光电探测器(8)中的每一个能够部分地接收由所述入射光束(6)在所述物体(2)上的直接且完全的反射所形成的各条反射光束(12)。
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