[发明专利]长形物体的表面分析

权利要求书

1.一种用于分析例如导线(2)或类似物的长形物体的表面状况的装置，包括：

-大致以环形布置在一个平面内的多个光源(4)，每个所述光源(4)朝向该环的轴线(5)发出主入射光束(6)，物体(2)设置在所述轴线(5)的附近，以便使所述物体(2)的待进行分析的表面区域设置在所述入射光束(6)的路径上；

-至少三个光电探测器(8，8a，8b，8c)，它们布置在一个大致与光源(4)所在的环相平行的平面中；

其特征在于，光源(4)被布置成使得主入射光束(6)与环的轴线(5)形成既非直角又非零度角的角度(α)，并且所述光电探测器(8)被布置成使得三个所述光电探测器(8)中的每一个能够部分地接收由所述入射光束(6)在所述物体(2)上的直接且完全的反射所形成的各条反射光束(12)。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述光电探测器(8)所在的平面与所述光源(4)所在的平面相对于入射光线(6)和环的轴线(5)之间的交点(7)是基本对称的。

3.如权利要求1或2所述的装置，其特征在于，它包括用于在环上以局部和旋转的方式单独且顺序地激发各光源(4)的装置，以便通过产生旋转的入射光束(6)而在所述物体(2)的表面上产生朝向所述光电探测器(8)的旋转的反射。

4.如权利要求1至3中的任意一项所述的装置，其特征在于，它还包括透镜(9)，所述透镜(9)布置在主入射光线(6)和环的轴线(5)的所述交点(7)与每个所述光电探测器(8)之间，用于聚集由所述物体(2)反射的能量并将其引导至所述光电探测器(8)。

5.如权利要求1至4中的任意一项所述的装置，其特征在于，它包括至少十个光源(4)，这些光源(4)在一环形中大致等距离分布。

6.如权利要求1至5中的任意一项所述的装置，其特征在于，它包括复曲面透镜(22)，所述复曲面透镜(22)布置在所述光源(4)所在的环与所述环的轴线(5)之间，并以所述轴线(5)为中心，用于将所述入射光束(6)在轴线(5)的附近聚集成一条细线。

7.如权利要求1至6中的任意一项所述的装置，其特征在于，它包括至少三个彼此以一定角度间隔开的光电探测器(8，8a，8b，8c)。

8.如权利要求1至7中的任意一项所述的装置，其特征在于，它包括装置(16)，该装置(16)能够获取并比较来自所述光电探测器(8)的信号，由此够检测出由所述光电探测器(8)接收到的能量的变化，进而能够定位出它们在物体(2)表面上的来源并确定出缺陷的大小。

9.一种用于分析例如导线(2)或类似物的长形物体的表面状况的方法，包括如下步骤：

-提供大致以环形布置的多个光源(4)，每个所述光源(4)朝向该环的轴线(5)发出入射光束(6)，该光束与所述轴线(5)形成不是直角也不是零度角的角度(α)；

-将物体(2)大致设置在所述环的轴线(5)上，使得所述物体(2)的表面上待进行分析的大致为环形的区域设置在所述入射光束(6)的路径上；

-提供布置在大致与光源(4)所在的环相平行的平面中的至少三个光电探测器(8，8a，8b，8c)，所述光电探测器(8)布置成使得所述三个光电探测器(8)中的至少两个能够接收由入射光束(6)在所述物体(2)上的直接且完全的反射所形成的各条反射光束(12)；

-以在环上旋转的方式，单独且顺序地激发各所述光源(4)，从而在所述物体(2)的表面上产生由所述光电探测器(8)接收的对反射的圆周式扫描，所述光电探测器(8)逐点地检测接收到的能量。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，所述物体的表面状况的变化，形状缺陷的存在，物体表面的不规则性，或物体表面颜色的变化是通过检测由至少两个光电探测器(8)接收到的反射能量的变化来确定的。

11.如权利要求9或10所述的方法，其特征在于，它还包括如下步骤：沿所述环的轴线(5)逐渐移动所述物体(2)，以便通过螺旋形扫描来分析所述物体的整个表面。