[发明专利]用于改进垂直彩色CMOS图像传感器的敏感度的方法和设备有效
| 申请号: | 200580007177.3 | 申请日: | 2005-03-02 |
| 公开(公告)号: | CN101421847A | 公开(公告)日: | 2009-04-29 |
| 发明(设计)人: | 雅罗斯拉夫·希内切克;理查德·B·梅里尔;拉塞尔·A·马丁 | 申请(专利权)人: | 菲佛公司 |
| 主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王允方;刘国伟 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | 本发明详细描述CMOS图像传感器像素的结构,所述CMOS图像传感器像素在不需要在其表面上放置吸收滤光片的情况下感测入射光的色彩。所述色彩感测是通过将三电荷检测节点的一垂直堆叠放置在硅块中而完成的,所述三电荷检测节点依据电子产生的深度来收集电子。通过使用完全耗尽的势阱形成的掩埋层取代未耗尽的结电极来实现小电荷检测节点电容和因此具有低噪音的高敏感度。呈现在基本上不增加节点电容的情况下接触所述掩埋层的两个实施例。 | ||
| 搜索关键词: | 用于 改进 垂直 彩色 cmos 图像传感器 敏感度 方法 设备 | ||
【主权项】:
1. 一种在一CMOS图像传感器中的具有一p型掺杂区的感光像素,其包含:一第一掺杂电荷收集区,其掩埋在所述p型掺杂区内并经配置以作为一耗尽势阱而操作;一第一n+型掺杂塞,其从所述图像传感器的表面附近延伸到所述第一电荷收集区;一第二掺杂电荷收集区,其掩埋在所述p型掺杂区内,所述第二电荷收集区通过所述p型掺杂区而与所述第一电荷收集区垂直分离,并经配置以作为一耗尽势阱而操作;和一第二n+型掺杂塞,其从所述图像传感器的所述表面附近延伸到所述第二电荷收集区。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





