[实用新型]半导体激光器热弛豫时间的测试装置无效
| 申请号： | 200520042281.3 | 申请日： | 2005-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN2828834Y | 公开（公告）日： | 2006-10-18 |
| 发明（设计）人： | 陈晨;辛国锋;方祖捷 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种半导体激光器热弛豫时间的测试装置，该装置的构成是：一脉冲电源，该脉冲电源的输出端接半导体激光器，沿该半导体激光器的激光前进方向依次是准直系统和光谱仪，光电倍增管位于所述的光谱仪的输出狭缝，光电倍增管的输出端接Boxcar积分器的输入端，所述的脉冲电源的同步输出端经过延时电路连接Boxcar积分器的触发输入端，计算机输入端数据采集卡连接Boxcar积分器输出端。本实用新型的优点是：不需测试激光器阈值电流和斜率效率随结温的变化关系；装置造价低，容易搭建，方法简单、稳定性好。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 弛豫时间 测试 装置 | ||
【主权项】：
1 一种半导体激光器热弛豫时间的测试装置，其特征在于该装置的构成是：一脉冲电源(2)，该脉冲电源(2)的输出端接半导体激光器(1)，沿该半导体激光器(1)的激光前进方向依次是准直系统(4)和光谱仪(5)，光电倍增管(6)位于所述的光谱仪(5)的输出狭缝，光电倍增管(6)的输出端接Boxcar积分器(7)的输入端，所述的脉冲电源(2)的同步输出端经过延时电路(3)连接Boxcar积分器(7)的触发输入端，计算机(8)输入端数据采集卡连接Boxcar积分器(7)输出端。
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