[实用新型]半导体激光器热弛豫时间的测试装置无效
| 申请号： | 200520042281.3 | 申请日： | 2005-06-08 |
| 公开（公告）号： | CN2828834Y | 公开（公告）日： | 2006-10-18 |
| 发明（设计）人： | 陈晨;辛国锋;方祖捷 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;H01L21/66 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体激光器 弛豫时间 测试 装置 | ||
【说明书】：
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