[发明专利]具有单片集成的互阻抗放大器和分析电子单元的光电探测器以及制造方法无效

专利信息
申请号: 200480036299.0 申请日: 2004-12-06
公开(公告)号: CN1890818A 公开(公告)日: 2007-01-03
发明(设计)人: 康拉德·巴赫;亚历山大·赫尔克;乌韦·埃科尔特;沃尔夫冈·艾因布罗特;卡尔-乌尔里希·施塔尔 申请(专利权)人: X-FAB半导体制造股份公司;梅莱希斯有限公司
主分类号: H01L31/10 分类号: H01L31/10;H01L31/0224;H01L31/02;H01L27/144
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 曾立
地址: 德国埃*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明应该这样地构造光电探测器(10),使得在现有技术中的用于小的待处理的光功率的探测器中不产生缺点,特别是当涉及具有分析电子单元的单片集成时。对此提出了一种用于小的待处理的光功率的、具有单片集成的互阻抗放大器和分析电子单元的光电探测器。本来的光电池部分(20)被分配给所述的一个芯片面,光优选地在该面上入射。电子电路部分(30)被设置在相反的芯片面上。在光电池和电子电路之间的电连接(40)以在与芯片法线的垂直线方向上的伸展而存在。
搜索关键词: 具有 单片 集成 阻抗 放大器 分析 电子 单元 光电 探测器 以及 制造 方法
【主权项】:
1.用于小的待处理的光功率的、具有单片集成的互阻抗放大器和分析电子单元的光电探测器,其中一个本来的光电池部分(20)被配置给一个芯片面(R),光(L)优选地从该面入射,一个电子电路部分(30)被设置在相反的芯片面上(V);在该光电池部分(20)和该电子电路部分(30)之间存在一些电连接(40,41),这些电连接具有在与一个垂直线(芯片法线)平行的方向上的伸展,或者具有在与芯片平面垂直的方向上的伸展。
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