[发明专利]倒装芯片及线接合半导体封装件无效

专利信息
申请号: 200410102106.9 申请日: 2004-12-14
公开(公告)号: CN1790693A 公开(公告)日: 2006-06-21
发明(设计)人: 廖美云;冯志成;阿米努丁·伊斯梅尔;卢威耀;宋复斌;刘金梅;王建洪;姚晋钟 申请(专利权)人: 飞思卡尔半导体公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L21/60
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王永刚
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种半导体封装件(100、150、200、250),以及形成所述封装件的方法,所述封装件包括其中形成有开口(104、104’、204、204’)的衬底(102、102’、202、202’)。在所述衬底的第一侧(106、106’、206、206’)和所述衬底的第二相对侧(132、132’、232、232’)上的所述开口四周形成接触焊盘(112、112’、212、212’)。倒装芯片管芯(120、120’、220、220’)被安置到所述衬底上,其有源侧(114、114’、214、214’)安置在所述衬底的第一侧上,并且与在所述衬底第一侧上形成的至少一些接触焊盘电导通。至少一个线接合管芯(110、110’、210、210’)被穿过开口安置,其非有源侧安置在倒装芯片管芯的有源侧上。线接合管芯与衬底第二相对侧上形成的多个接触焊盘中的至少一些电导通。
搜索关键词: 倒装 芯片 接合 半导体 封装
【主权项】:
1、一种半导体封装件,其包含:衬底,包括在其中形成的开口;多个在所述衬底第一侧上和所述衬底第二相对侧上开口的四周形成的接触焊盘;倒装芯片管芯,其具有安装在所述衬底第一侧上、并与衬底第一侧上形成的至少一些接触焊盘电导通的有源侧;及至少一个线接合管芯,其周边尺寸小于开口的尺寸,所述线接合管芯具有连接到倒装芯片管芯有源侧上的非有源侧,至少一个线接合有源管芯与衬底第二相对侧上形成的多个接触焊盘中的至少一些电导通。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于飞思卡尔半导体公司,未经飞思卡尔半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200410102106.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top