[发明专利]具有用于测量内部存储器宏的AC特性的测试电路的集成电路装置有效
| 申请号： | 03826821.3 | 申请日： | 2003-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN1802708A | 公开（公告）日： | 2006-07-12 |
| 发明（设计）人： | 牧康彦 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种集成电路装置包括：存储器宏，用于在正常操作期间响应于控制脉冲而锁存输入地址，并产生与输入地址相对应的数据输出；以及测试控制电路(22)，用于在测试期间执行对存储器宏的特性测试。一个或更多个存储器宏单元(RMU1、RMU2、RMU3)分别具有：脉冲发生电路，用于在测试期间响应于输入脉冲而产生用于测试的控制脉冲；以及存储器宏，其被连接以形成环形振荡器，并且该测试控制电路测量环形振荡器的振荡频率或周期。当存储器宏的数据输出被提供给后续级的脉冲发生电路以产生控制脉冲时，环形振荡器进行振荡。振荡周期被划分为预定数量的级，去除脉冲发生电路的延迟，由此高精确度地测量存储器宏的访问时间。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 用于 测量 内部 存储器 ac 特性 测试 电路 集成电路 装置 | ||
【主权项】：
1、一种包括存储器宏的集成电路装置，其具有：至少一个存储器宏，其响应于所提供的控制脉冲而输出数据输出信号；以及测试电路，其测量所述存储器宏的特性，其中，在测试期间，所述测试电路通过脉冲发生电路和存储器宏来构造存储器宏单元，所述脉冲发生电路响应于输入脉冲而生成测试控制脉冲，并且所述存储器宏单元响应于所述测试控制脉冲而交替地输出第一和第二数据输出信号；并且通过以规定数量的级的方式级联所述存储器宏单元来构造环形振荡器，该规定数量为1或更大，最后一级存储器宏单元的输出被反馈到初级存储器宏单元的输入，所述测试电路用于测量所述环形振荡器的振荡频率或周期。
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