[发明专利]具有用于测量内部存储器宏的AC特性的测试电路的集成电路装置有效
| 申请号： | 03826821.3 | 申请日： | 2003-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN1802708A | 公开（公告）日： | 2006-07-12 |
| 发明（设计）人： | 牧康彦 | 申请（专利权）人： | 富士通株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 具有 用于 测量 内部 存储器 ac 特性 测试 电路 集成电路 装置 | ||
【说明书】：
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