[发明专利]自动化集成电路整机测试系统、装置及其方法有效
| 申请号： | 02106802.X | 申请日： | 2002-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN1376932A | 公开（公告）日： | 2002-10-30 |
| 发明（设计）人： | 祁明仁;郭澎嘉 | 申请（专利权）人： | 威盛电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 北京集佳专利商标事务所 | 代理人： | 王学强 |
| 地址： | 台湾省台北县*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种自动化集成电路整机测试系统、装置及其方法,该系统包括一机架,至少一测试用计算机设置于机架上用于承载及测试一被测集成电路,至少一自动插拔机构设置于机架上,适于将被测集成电路置入测试用计算机及自测试用计算机中移除;以及至少一控制装置,电连接测试用计算机及自动插拔机构,用以控制自动插拔机构的动作及测试用计算机的测试。测试用计算机于承载被测集成电路后构成一整机计算机,而可以执行各种一般性应用程序与特定测试程序以进行整机测试。 | ||
| 搜索关键词： | 自动化 集成电路 整机 测试 系统 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种自动化集成电路整机测试系统，其特征为：包括：一机架；至少一测试用计算机，设置于该机架上，适于承载及测试一被测集成电路；至少一自动插拔机构，设置于该机架上，适于将该被测集成电路置入该测试用计算机及自该测试用计算机中移除；以及至少一控制装置，电连接该测试用计算机及该自动插拔机构；用以控制该自动插拔机构的动作及该测试用计算机的测试，其中，该测试用计算机于承载该被测集成电路后构成一整机计算机，以进行整机测试。
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