[发明专利]自动化集成电路整机测试系统、装置及其方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种自动化集成电路整机测试系统、装置及其方法，特别是有关于一种可仿真最终终端使用者状态，以及进行动态测试的自动化集成电路整机测试系统、装置及其方法。

背景技术

计算机对现今的人类而言几乎已成为生活中的必需品之一，无论服务器(server)、工作站(Workstation)、桌上型计算机(desktop computer)，笔记型计算机(notebook computer)或便携式计算机(portable computer)，或是个人数字助理(personal digital assistant)或掌上型计算机(palm-topPC)或口袋型计算机(pocket PC)，甚至工业用计算机(industrialcomputer)，俨然成为大部分人日常生活的一部份。而这些计算机由诸多的集成电路(integration circuit，IC)组成，而这些集成电路皆须经过繁复的测试，才能确保产品的使用质量。

请参照图1，为公知的个人计算机(personal computer，PC)结构图。公知个人计算机100主要包括中央处理单元110(Central Processing Unit，CPU)、系统总线控制器112(System Bus Controller)、输入/输出总线控制器114(I/O Bus Controller)等主要集成电路构成。其中，内存116(Memory)、进阶图形端口118(Advanced Graphic Port)电连接系统总线控制器112，而监视器120(monitor)与进阶图形端口118电连接，以输出影像。而外围元件接口122(peripheral component interface，PCI)连接于系统总线控制器112及输入/输出总线控制器114之间。至于整合式驱动电子接口130(integrated drive electronics，IDE)、软式磁盘驱动器l32(floppy disk)、并行端口134(parallel port)、串行端口136(serial port)及通用序列总线138(universal serial bus，USB)与输入/输出总线控制器114电连接。另外，还可以选择性将音效140(Audio)及以太网络142(ethernet)与输入/输出总线控制器114电连接。

而上述这些构件皆是有许多集成电路(Integrated Circuit，IC)所构成，比如中央处理单元110、系统总线控制器112、输入/输出总线控制器114、内存116，或者进阶图形端口118中的图形加速器(GraphicAccelerator)等。或者外围元件接口122中扩充接口上的集成电路；另外还包括音效芯片及以太网络芯片等。上述集成电路都是计算机的重要电子元件，所以这些集成电路的效能及兼容性关系到整个计算机的操作。

请参照图2，为公知集成电路测试流程。公知集成电路202，比如是逻辑集成电路(logic IC)经过晶圆厂制造完成，进行初步测试，然后再经过封装后，则需经过最终测试204(final test)始能出货206。通常是先将集成电路放置于自动测试设备(automatic test equipment，ATE)中，利用一测试座(test socket)电连接集成电路的接点，然后进行预定的仿真功能测试动作，再判定集成电路是否正常。然而公知集成电路测试皆是以特定程序进行功能仿真，且皆以测试完成后元件的最后状态来判断集成电路是否正常，最后根据测试结果将集成电路分类(binning)然后出货。至于内存集成电路(memory IC)经过第一阶段的最终测试208后还需经过老化测试210(burn-in test)，在经过第二阶段最终测试212，始能出货。至于第一阶段最终测试208及第二阶段最终测试212皆是以自动测试设备进行。而老化测试210则是利用手动或半自动方式将集成电路放置于测试电路板的连接器(Socket)中，再放入加热测试机台，对集成电路施加热效应(thermal stress)、电压应力(voltage stress)或电流应力(current stress)，以进行老化测试。然而，公知集成电路测试并无法仿真终端使用者的实际操作状态，皆是以仿真程序进行功能测试，所以将来组装成计算机后，仍有可能发生质量不稳定，或是与其它集成电路不兼容的问题。